空腹血糖受损下限诊断切点降低

糖调节受损（IGR）是任何一种糖尿病发病过程中的中间阶段，其中又分空腹血糖受损（IFG）和糖耐量受损（IGT）。为提高IFG对发生2型糖尿病的预测能力，中华医学会糖尿病学分会近日提出了有关IFG下限诊断切点的建议（中华医学杂志，2005，83：1947）：①降低IFG下限的诊断切点，即从6．1mmol／L降至5．6mmol／L。②IFG上限的诊断切点不变，仍为〈7．0mmol／L。由此，IGR可分为空腹血糖（FPG）≥5．6mmol／L，但葡萄糖耐量试验（OGTT）2小时血糖（2 hPG）〈7、8mmol／L的单纯IFG；FPG〈5．6mmol／L，但OGTT 2 hPG在7．8～11．0mmol／L之间的单纯IGT及二者兼有等三种状态。③在下调IFG诊断切点后，所有FPG≥5．6mmol／L的个体均应接受OGTT，以将人群中的IFG＋IGT划分出来，此点至关重要。