小儿异常脑电图发生率的影响因素分析

目的 探讨小儿癫痫和热性惊厥异常脑电图(EEG)发生率的影响因素。方法 采用日本光电4418EEG机对临床诊断的136例癫痫患儿、105例热性惊厥患儿和79例其他疾病的患儿作常规EEG描记和睡眠或过度换气诱发描记，并对影响异常EEG发生率的因素进行综合分析。结果 癫痫患儿异常EEG发生率与记录时程的长短成正相关，记录时间30分钟异常EEG发生率可达56％，同时必要的诱发试验可使异常EEG检出率提高到80.1％。而癫痫患儿异常EEG发生率的高低与发作形式和病程无明显关系。结论 提高间歇期EEG诊断的准确性和异常EEG的检出率，对小儿癫痫的诊断有着重要的作用。