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下颌前突综合征X线头影测量特征研究
引用本文:张林,张善勇,赵海兰,刘少敏. 下颌前突综合征X线头影测量特征研究[J]. 黑龙江医药科学, 1996, 0(4)
作者姓名:张林  张善勇  赵海兰  刘少敏
作者单位:白求恩医科大学口腔颌面外科,山东省泰安市中心医院口腔科,山东省泰安市中心医院口腔科,山东省泰安市中心医院口腔科 长春130021
摘    要:通过对31例下颌前突综合征患者进行X线头影计算机辅助测量,得出如下特征:(1)上领发育不足,面中部凹陷或扁平。(2)下颌骨向前下方过度生长,Angle分类为Ⅲ型,面下1/3前突,前牙反合或开合。(3)下颌过陡,面部垂直高度变长。(4)下颌切牙呈代偿性内倾。(5)下唇高变长。认为X线头影测量是以数量化方法指导手术方案的制定。

关 键 词:下颌前突综合征  头影测量  测量项目

Study on features of cephalomentry on X--ray film of mandibular prognathism syndrome
Zhang Lin,et al. Study on features of cephalomentry on X--ray film of mandibular prognathism syndrome[J]. Heilongjiang Medicine and Pharmacy, 1996, 0(4)
Authors:Zhang Lin  et al
Abstract:
Keywords:mandibular prognathism syndrome  cephalometry on X-ray film  measure the item
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