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一种用于电阻抗成像的拟New ton算法——基于修正B_k的开关算法
作者姓名:李文波  王博亮  孙桂菊  向飞  刘希顺
作者单位:北京航天医学工程研究所!北京100094(李文波,王博亮,孙桂菊,向飞),国防科技大学电子技术学院!长沙410073(刘希顺)
摘    要:本文提出了一种新的电阻抗成像 (EIT) 图像重建算法—基于修正Bk 的拟New ton类算法,并通过数值试验验证了该算法的有效性。新算法基于目标函数梯度向量的快速算法,利用基于修正Bk 的拟New ton 法来求解EIT逆问题。与著名的New ton-Raphson 算法相比, 该算法的突出优点是计算量小, 数值稳定性好, 具有整体收敛性。

关 键 词:电阻抗成像  重建算法  拟Newton法  逆问题
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
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