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1.
目的 对一起工业探伤源丢失事故受照者进行细胞遗传学检查和辐射损伤评价。方法 常规染色体畸变分析、CB微核率检测。结果 38名受检者的染色体双+环平均畸变率明显高于自发畸变率,其中有2人受到过量照射。结论 本次事故属于过量照射事故。  相似文献   
2.
一起放射性伤害事故受照者1.5年后染色体畸变随访观察   总被引:3,自引:0,他引:3  
背景与目的:对广州放射性伤害事故受照者进行远后效应随访,观察迁延照射的细胞遗传学损伤特点。材料与方法:常规染色体畸变与G-显带核型分析。结果:双着丝点畸变下降缓慢;染色体总畸变率26%,其中以易位等稳定性畸变为主,未发现克隆样核型改变。结论:迁延照射造成的细胞遗传学损伤较一次照射严重,且修复缓慢。  相似文献   
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