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<正>X线头影测量于1931年由HOFRATH和BROADBENT提出,之后经过多年的不断研究探索,在颅面生长发育及结构分析的研究工作中得到广泛的应用[1]。目前,X线头影测量分析已普遍应用于口腔各专业,并且成为口腔正畸临床病例诊断、分析的重要辅助手段。常用口腔正畸的头影测量软件有艾坚,Winceph,Onyxceph等专业测量软件。还可以用几何画板(geometry sketchpad)、Photoshop等非专业软件实现 相似文献
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