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本文提出鳞片石墨厚度是表征石墨品质的独立参数。采用多层平铺制样法将鳞片石墨复合制成光片,可供光学显微镜或图像分析仪测定鳞片石墨的厚度。当样本数不少于120个,倾斜颗粒不多于25%时,检测结果可满足统计学允许误差的要求。 相似文献
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