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目的 采用近红外成像技术(NIRS)分析注意缺陷多动障碍(ADHD)患儿静息态脑功能特点以及与症状严重程度的相关性,进而探索ADHD的病理机制。方法 收集2017年3-6月期间20例ADHD患儿及性别、年龄匹配的20例正常儿童,使用韦氏智力量表、ADHD症状评定问卷评定其智商和症状严重程度,近红外脑成像收集静息态脑功能数据。采用低频振幅(ALFF)及Pearson偏相关分析方法评估静息态脑区活动水平以及与症状严重程度的相关性。结果 1)与对照组相比,ADHD组在右侧背外侧前额叶、右运动前区及辅助运动区、左侧背外侧前额叶及额极、左侧颞上/中回及初级听觉区、左侧额下回、左侧眶额叶皮层的ALFF值增高,差异有统计学意义(t=-2.48,-2.41,-2.66、-2.12、-2.51、-0.039,P<0.05)。2)ADHD组左侧额下回、眶额叶皮层、额极(r=0.562, P=0.036)以及左侧颞上/中回、初级听觉区(r=0.541, P=0.046)的ALFF值与多动冲动分存在显著正相关(P<0.05)。结论 ADHD患儿存在脑功能的异常,即在大脑静息态下脑区自发活动可能增强;ADHD患儿的脑功能异常与多动冲动症状严重程度相关。 相似文献
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