不同空腹血糖受损下限切点对重庆地区人群代谢状态的影响

目的寻找预测2型糖尿病（T2DM）和糖耐量减低（IGT）发生的最佳空腹血糖受损（IFG）下限切点及其对代谢状态的影响。方法采用横断面调查的方法对重庆局部地区3189例既往无糖尿病史的自然人群的空腹血糖（FPG）进行ROC分析，绘制ROC曲线，并进行糖脂代谢调查和分析。结果预测T2DM和IGT发生的最佳IFG下限切点ROC曲线下面积分别为0．899和0．728。用FPG来预测T2DM和IGT，其灵敏度及特异度均较好的点分别为5．6mmol／L和5．2mmol／L。在负荷后2h血糖（2hPG）〈7．8mmol／L人群中，与FPG〈5．6mmol／L亚组比较，FPG5．6～6．1mmol／L亚组肥胖、高血压、代谢综合征和胰岛素抵抗的发生率分别增加了53％、54％、60％和126％。IFG下限切点下调前后，糖调节受损（IGR）各亚组组分的代谢特征不改变。结论将5．6mmol／L作为IFG的下限值适用于中国人群。