脆性X综合征的细胞遗传学研究

本研究从１０个Ｘ－连锁智力低下家系中，经细胞遗传学检查，检测出５个Ｆｒａ（Ｘ）综合征家系，共１５名患者和携带者检查发现：１、不同成份培养液对脆性Ｘ表达有影响。２、活性Ｘ染色体Ｘｑ２７迟复制与Ｆｒａ（Ｘ）综合征患者智力密切相关。３、Ｆｒａ（Ｘ）染色体的活性与女性携带者的智力有一定的关系     

Fra(X)与FMR-1基因表达的研究现状

196 9年Ｌｕｂｓ首先报告了Ｘ连锁智力低下与Ｘ染色体的脆性位点有关。人类ｆｒａ(Ｘｑ2 7.3)指Ｘ染色体长臂末端 2区 7带的断裂或随体样改变。具有这类变化的Ｘ染色体称为脆性Ｘ染色体 ,又称标记Ｘ染色体。脆性Ｘ在严重智力低下男性中占 7% ;在轻微智力低下男性中占 4.5 % [1] 。脆性Ｘ综合征是通过ｆｒａ(Ｘｑ2 7.3)遗传的Ｘ连锁智力低下综合征。近来Ｍｕｌｌｉｇａｎ己将与该综合征有关的脆性位点 ,准确地定位在Ｘｑ2 7.3[2 ] 。Ｈｅｒｂｓｔ报告脆性Ｘ综合征在出生男性中发病率约为 0 .92‰[3 ] 。可见脆性Ｘ综合征是男性智力低下的较常…     

先天性智力低下的遗传学研究

为探索先天性智力低下的遗传异质性,对２４０例先天性智力低下患者进行Ｇ显带分析和低叶酸诱导脆性Ｘ染色体检测,并以先证者为核心进行家系调查。发现先天性智力低下患者中,Ｄｏｗｎ综合征占１０．４２％,Ｆｒａ（Ｘ）综合征占５．４２％,染色体倒位、易位及缺失共占３．７５％,染色体正常８０．４２％。表明先天性智力低下具有多种遗传学病因和不同的复发风险率。     

脆性X综合征的临床和遗传方式探讨

脆性Ｘ综合征是非特异性Ｘ连锁智力低下综合征。本文通过二个家系２４ 人的调查分析,将智力低下、语言障碍、多动,视作脆性Ｘ 综合征最明显的临床特征。本病遗传有其特殊的遗传方式：（１）脆Ｘ 综合征是由表型正常的男性传递。（２） 表型正常的男性携带者通常是男性患者的外祖父。（３） 脆Ｘ综合征家系中,智力低下男性患者比予期的约少２０ ％ ,低于Ｘ连锁基因所予期的数值。（４）本综合征患儿母亲几乎均是携带者。（５） 表型异常的女性ｆｒａ（ｘ）来自母亲而非来自父亲。（６）同胞中外显程度不一致。对患者及携带者的确切诊断是依靠染色体显示Ｘｑ２７ ．３ 位置的脆位点。     

脆性X综合征的研究现状

脆性Ｘ综合征的研究现状金润铭综述杨爱德费洪宝审校脆性Ｘ综合征［ｆｒａｇｉｌｅＸｓｙｎｄｒｏｍｅ，ｆｒａ（Ｘ）］又称为Ｍａｒｔｉｎ－Ｂｅｌｌ综合征，是最常见的家族性智力低下性疾病之一。在遗传性智能障碍疾病中，其发病率仅次于先天愚型，占非特异性智力低下患...     

脆性X综合征的研究进展

脆性Ｘ综合征［ｆｒａｇｉｌｅＸｓｙｎｄｒｏｍｅ,Ｆｒａ（Ｘ）］是最常见的Ｘ连锁智力低下性疾病,因其遗传方式独特,引起了医学界及分子生物学界的广泛关注。１９９１年Ｖｅｒｋｅｒｋ等［１］分离并克隆出该病的致病基因—脆性Ｘ智力低下１号基因（ｆｒａｇｉｌｅＸ...     

脆性x综合征与婴儿孤独症的心理量表测定研究

本文采用心理量表（智力、社会生活能力和克氏孤独症行为量表）及脆性染色体检查对脆性Ｘ综合征与婴儿孤独症进行了比较分析。其结果为：两病有一定相似处，均以男性好发、有智力障碍和社会生活能力异常，且都可出现一些特殊的行为。脆性Ｘ染色体为脆性Ｘ综合征所特有。脆性Ｘ综合征者，尤其是学龄前儿童虽也可出现某些孤独症的行为，但特殊行为出现的频率及严重度却显著低于孤独症患儿。脆性Ｘ综合征与婴儿孤独症是彼此独立且各有特殊表现的两种疾病，脆性染色体检查及孤独症行为量表分析是两病进行早期正确诊断的重要依据。     

智力低下或伴畸形患者的细胞遗传学研究

目的 用细胞遗传学方法研究先天性智力低下或伴发畸形患者的病因，为优生干预提供科学依据。方法 采用外周血淋巴细胞培养技术、染色体G显带、显微镜下进行染色体核型分析或脆性X染色体检测。结果 1093例先天性智力低下或伴发育畸形患儿中染色体核型异常355例，检出率为32．5％（355／1093），其中21号染色体异常者326例，占染色体异常的91．8％（326／355），其他常染色体结构或数目异常24例，占6．8％（24／355），性染色体异常者5例，占1．4％（5／355）。对临床疑似脆性X综合征的48名患者用细胞遗传学方法检出6名脆性X综合征患者，占受检者的12．5％（6／48）。结论 先天性智力低下或伴发畸形、生长发育迟缓是染色体异常的主要临床表现形式，细胞遗传学方法是诊断染色体病、检出携带者以及进行产前诊断的重要方法。     

男性弱智群体脆性X综合征全突变者的筛选研究

男性弱智群体脆性Ｘ综合征全突变者的筛选研究李薇杜风兰朱丽阳荆泽李军脆性Ｘ综合征是Ｘ－性连锁先天性智力低下中最常见的一种疾病。１９３１年Ｖｅｒｖｅｒｋ等［１］应用分子克隆技术发现了在Ｘｑ２７．３脆性位点附近的智力低下基因（ＦＭＲ－１），揭示该综合征的发...     

脆性X综合征：FMR－1基因的分离及脆性X突变的特征

脆性Ｘ综合征是家族性智力低下的最常见原因。脆性Ｘ染色体的分子生物学研究已经取得了重大突破，使用ＹＡＣ克隆的方法已经克隆出ＦＭＲ—１基因。ＦＭＲ－１基因外显子区ＣＧＧ重复的扩增及甲基化是脆性Ｘ综合征产生的原因。本文对ＤＮＡ分析法用于脆性Ｘ综合征产前诊断和携带者检出也进行了讨论。     

脆性X综合征：FMR—1基因的分离及脆性X突变的特征

脆性Ｘ综合征是家族性智力低下的最常见原因。脆性Ｘ染色体的分子生物学研究已经取得了重大突破。使用ＹＡＣ克隆的方法已经克隆出ＦＭＲ－１基因外显子区ＣＧＧ重复的扩增及甲基化是脆性Ｘ综合征产生的原因。本文对ＤＮＡ分析法用脆性Ｘ性综合征产前诊断和携带者检出也进行了讨论。     

2例染色体易位家系中亲代脆性部位表达的研究

本文对２例新发生的Ｘ—常染色体平衡易位携带者家系进行了染色体脆性部位表达的分析。报道了１例患者核型为４６，Ｘ，ｔ（Ｘ；１９）（ｑ２２；ｐ１２）而其母亲ｆｒａ（Ｘ）（ｑ２２）表达频率较高的家系，及患者核型为４６，Ｘ，ｔ（Ｘ；９）（ｑ２６；ｑ２２）其母ｆｒａ（９）（ｑ２２）有表达的病例。此结果提示，染色体断裂点的产生与亲代脆性部位表达增高，特别是在与断裂点同一位点上的脆性部位表达增高有某种联系     

脆性X染色体病人的皮纹所见

作者对15名智力低下半合子和杂合子的脆性X染色体病人同20例无脆性X染色体智力低下病人、200例无亲缘关系健康人的指纹和掌纹所见进行比较。在脆性X染色体男性手指尖端部具有特有的涡形纹和兼高嵴纹计数的双箕纹以及掌折痕(猿线)。脆性X染色体女性携带者指、掌嵴纹表现某些异常。女性携带者和无脆性X染色体智力低下者,发现指嵴纹计数低。     

脆性X综合征的分子机制

脆性Ｘ智力低下基因（ＦＭＲ－１）克隆后，特别是１９９３年以来，在ＦＭＲ－１精细细胞与功能及脆性Ｘ综合征发病机制等方面的研究有了重要发现。现已知ＦＭＲ－１有１７个外显子，分布在３８ｋｂ范围内，而不是当初推测的８０ｋｂ以上，ＦＭＲ－１的表达产物为一种ＲＮＡ结合蛋白；ＦＭＲ－１异常甲基化的研究支持Ｘ失活印迹假说；染色体奠基突变是导致ＦＭＲ－１突变的原因；在三核苷酸动态突变的疾病中，只有（ＣＧＧ）ｎ序列拷     

山西省86例智力低下儿童脆性X染色体分析

本文采用低叶酸培养双诱导的方法对86例智力低下儿童进行了脆性X染色体分析，结果共发现染色体异常11例，为受检人数的12.79%。检出3例脆性X综合征，检出率为3.49%，占异常核型的27.27%。提示性X综合征是导致先天性智力低下常见原因之一，对智力低下儿童进行性X检测，确诊患者，对优生优育提高人口素质具有重要的现实意义。     

福州地区113例智力低下者的染色体检查及分析

本文对１１３例智力低下者的染色体检查结果进行分析。５０例染色体异常,异常率为４４２５％,２１－三体仍居首位,占３３７１％。１３ｑ三体２例,比较核型４６,ＸＸ／４６,ＸＸ,－１３,＋ｔ（１３ｑ;１３ｑ）及４６,ＸＸ,－９,＋ｔ（９ｑ;１３ｑ）,前者为单纯１３ｑ三体,后者除１３ｑ三体外,伴有９ｐ单体,提出造成智力低下的主要原因为１３ｑ三体,致病位点可能位于１３ｑ上。异态性７例,其中４６,ＸＸ（ＸＹ）３例,其它４例,认为染色体的异态性可能亦与中枢神经系统的发育完善有关。     

Fra(X)与FMR一1基因表达的研究现状

1969年Lubs首先报告了X连锁智力低下与X染色体的脆性位点有关.人类h(Xq27.3)指X染色体长臂末端2区7带的断裂或随体样改变.具有这类变化的X染色体称为脆性X染色体,又称标记X染色体.脆性X在严重智力低下男性中占7%;在轻微智力低下男性中占4.5%[1].脆性X综合征是通过fra(Xq27.3)遗传的X连锁智力低下综合征.近来Mulligan已将与该综合征有关的脆性位点,准确地定位在Xq27.3[2].Herbst报告脆性X综合征在出生男性中发病率约为0.92‰[3].可见脆性X综合征是男性智力低下的较常见病因(仅次于21三体综合征),目前脆性X综合征己成为医学界普遍重视的研究课题.本文拟对脆性X综合征及其临床意义作一概要综述.     

智力低下患者的脆性X染色体检测与分子遗传学分析

脆性Ｘ综合征是常见的遗传病。表现为智力障碍，其遗传方式为Ｘ连锁遗传。智低的发病率仅次于Ｄｏｗｎ综合征。Ｌｕｂｓ（１９６９）发现患者的Ｘ染色体长臂上有一种特异的脆性位点，后又发现此征中部分患者有巨睾（ｍａｃｒｏｏｃｒｃｈｉｄｉｓｍ）。我们对来自我省“七...     

脆性X综合征35个家系的临床分析

脆性Ｘ综合征３５个家系的临床分析伍汉文，夏家辉，李麓芸，何小轩，戴和平，黄艳红，陈胜湘１９６９年Ｌｕｂｓ首先在智力低下男性患者及其女性亲属中发现Ｘ染色体长臂具有随体样结构，１９７７年Ｓｕｔｈｅｒｌａｎｄ用Ｇ显带技术证明随体样结构位于Ｘｑ２７，并将其命...     

智力低下儿童X染色体脆性位点及FMR1基因突变的研究

目的探讨智力低下（Mental Retardation,MR）儿童染色体遗传学原因。方法选择智力低下患儿及其父母作为研究对象,采用细胞遗传学方法检测X染色体脆性位点,以及采用多重连接探针扩增（Multiplex ligation—dependent Probe Amplificaton,MLPA）技术分析FMRl（Fragile X mental retardation gene1）基因的缺失与重复。结果266例患儿共查出X脆性综合征18例,与父母同一脆性位点的7例,其中6例为FMRl基因突变。结论MR患儿可与表型正常的父母有同-X染色体脆性位点,但FMRl基因突变是X脆性综合征（Fragile X syndrome,Fra X）临床表型的真正原因。