离体上颌磨牙近中颊根第二根管出现率的研究

目的运用透明标本观察法、螺旋CT薄层扫描技术和牙根硬组织切片观察法研究中国人离体上颌第一、二磨牙近中颊根第二根管（MB2）的出现率。方法分别收集离体上颌第一磨牙216例、第二磨牙334例，均随机分为两组：A组制成透明标本；B组标本经螺旋CT扫描后，自根尖开始每隔1mm横切牙根。所有离体牙标本均在牙科手术显微镜下观察并记录近中颊根的根管数目。结果透明标本观察法所得的上颌第一、第二磨牙MB2出现率分别为81．48％和49．70％；螺旋CT扫描技术所得的结果分别为77．78％和47．31％；牙根硬组织切片法所得的结果分别为88．89％和53．89％。上颌第一磨牙MB2出现率高于第二磨牙，其差异有统计学意义（P〈0．05）。同一牙位不同实验方法间的结果差异均无统计学意义（P〉0．05）。结论上颌第一、二磨牙MB2出现率高，提示临床医师应努力探查该根管，以提高上颌磨牙根管治疗的成功率。     

上颌第二乳磨牙近中颊根第二根管的临床研究

探讨上颌第二乳磨牙近颊第二根管（MB2）的特征及临床治疗方法。选取患牙髓炎或根尖周炎的上颌第二乳磨牙95颗,拍摄术前及根充后 X 线片,采用耳鼻喉内窥镜观察测量髓室底各根管口位置关系;术中采用10号锉结合17％EDTA 凝胶探查根管,手动器械进行根管预备,螺旋输送器导入 Vitapex 糊剂充填根管。在95颗上颌第二乳磨牙中,有14颗存在 MB2,发现率为14．7％,MB2位于 MB-P 根管口之间假想连线的近中。     

根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发现率比较

目的：比较根管显微镜下离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管（MB2）的发现率与实际发生率的差异,为推广根管显微镜的临床应用提供依据。方法：离体上颌第一磨牙90个,分为两组,A组45个牙,采用改良开髓口,根管显微镜下探查寻找MB2并记录其发现率;B组45个牙,制成透明标本,观察近颊根的解剖形态,记录MB2的发生率,并与根管显微镜下MB2发现率相比较。结果：根管显微镜下A组MB2的发现率82.22%,透明牙标本B组显示的MB2发生率86.66%,二者之间不存在显著差异（P〉0.05）。结论：使用根管显微镜,MB2的发现率接近于其实际发生率。     

上颌磨牙近中颊根第二根管的检出率

目的 探讨上颌磨牙近中颊根第二根管(MB2)的临床检出率以及手术显微镜在提高上颌磨牙临床检出率中的作用.方法 选取进行常规根管治疗的63颗上颌第一磨牙.27颗上颌第二磨牙,以及进行显微根管治疗的55颗上颌第一磨牙,20颗上颌第二磨牙,2颗上颌第三磨牙,分别拍摄术前X线片,探查根管,记录根管数目.结果 进行常规根管治疗的上颌第一磨牙和上颌第二磨牙,MB2检出率分别为28.6%和3.7%;进行显微根管治疗的上颌第一磨牙和上颌第二磨牙,MB2检出率分别是61.8%和25%:对上颌第一磨牙常规根管治疗和显微根管治疗的MB2临床检出率进行卡方检验,X2=13.17,差异有统计学意义(P<0.001);对上颌第二磨牙常规根管治疗和显微根管治疗的MB2临床检出率进行Fisher确切概率值检测,单侧比较值为0.043,差异有统计学意义(P<0.05).结论 手术显微镜有助于提高上颌磨牙MB2的临床检出率,选择显微根管治疗有助于提升上颌磨牙根管治疗的成功率.     

牙科手术显微镜用于探查上颌第一恒磨牙近颊根第二根管口的诊断性试验

目的评价牙科手术显微镜（DOM）用于探查上颌第一恒磨牙近颊根第二根管（MB2）根管口的诊断价值。方法选择120个离体上颌第一恒磨牙为研究样本,采用交叉试验设计模式,将牙齿开髓后通过肉眼和手术显微镜分别进行MB2根管口的探查,探查完毕后将标本制成透明牙。以透明牙为金标准,以肉眼探查结果为对照,评价DOM的诊断价值。结果DOM探查的敏感性和准确度分别为0.78和0.76,优于肉眼探查的0.61和0.65（P<0.05）。结论使用手术显微镜能够提高MB2的发现率。     

上颌磨牙近颊根根管类型及其临床意义

目的：运用透明标本法观察离体上颌第一、二磨牙近颊根根管形态，并进行分类和讨论其临床意义。方法：收集离体上颌第一、二磨牙共275颗，制成透明标本。根管显微镜下观察、记录近颊根的根管数目、走向、融合和分支情况，并进行分类。结果：①上颌磨牙近颊根管形态各异，可概括为八种类型，双根管中以2-1型和2-2型多见；双根管率在第一磨牙和第二磨牙分别为81．48％和49．7％。②近颊根主根管(MB)和近颊根第二根管(MB2)的尖1/3多弯向远中，MB2在近根管口1mm-3mm处有一斜向近中的弯曲点。结论：掌握上颌磨牙近颊根1-2型、2-1-2型和1-2-1型根管形态，是提高上颌磨牙根管治疗技巧和成功率的关键；有效去除根管近中壁部分突起的牙本质，以减小冠1/3处的弯曲度，可望提高MB2根管的探通率。     

锥体束CT对上颌第一磨牙近中颊根管形态的研究

目的：通过锥体束CT（cone--beam computed tomography,CBCT）成像系统分析上颌第一磨牙近中颊根根管形态及第二（second mesiobuccal,MB2）根管的发生率。方法：选择95名进行CBCT扫描的患者,共计180颗上颌第一磨牙,观察近颊根根管形态、MB2根管的发生率、左右侧发生比率及男女发生比率差异。结果：上颌第一磨牙近颊根管形态以Ⅲ型为主,MB2根管发生率为79．4％,左右侧发生比率无统计学差异（P=0．846）,男性发生率明显高于女性（P=0．043）。结论：上颌第一磨牙近颊根MB2根管的发生率较高,可通过CBCT有效的发现MB2根管,为临床诊疗提供依据。     

上颌第一磨牙近颊第二根管的临床治疗

目的 探讨上颌第一磨牙近烦第二根管（second mesiobuccal canal，MB2）的特征及临床治疗方法。方法 选取患牙髓炎或根尖用炎的上颌第一磨牙95颗，拍摄术前X线片，术中采用小号K锉配合15％EDTA溶液探查根管，记录根管数目、形态和类型；采用机动镍钛器械Hero642进行根管预备，侧向加压充填技术充填根管。结果上颌第一磨牙MB2的发现率为81．1％，扩通的MB2占72．6％，多数MB2根管细小弯曲，需用小号锉配合使用EDTA进行疏通，机动镍钛器械预备根管无明显并发症。结论上颌第一磨牙MB2的发生率高，多数根管细小弯曲，小号K锉配合EDTA疏通根管，机动镍钛器械预备可获得良好的治疗效果。     

上颌第二乳磨牙根管数目的临床研究

目的 观察临床治疗中上颌第二乳磨牙根管数目.方法 选取需行上颌第二乳磨牙根管治疗的3~8岁患儿204例,共216颗患牙.常规方法开髓、制备开髓洞型,使髓室底完全暴露,用小号锉结合17%乙二胺四乙酸(ethylene diamine tetraacetic acid,EDTA)溶液探查各根管口的位置,确定并记录根管数目,根管预备完成后采用碘仿氧化锌糊剂进行根管充填.结果 216颗上颌第二乳磨牙中,122颗为3根管(占56.5%);94颗为4根管(占43.5%),根管数目变异以近中颊根第二根管(second mesiobuccal canal,MB2)出现频率较高,占比41.2%.上颌第二乳磨牙MB2的发现率在性别(X2=1.004,P=0.316)及牙位方面的差异(X2=0.072,P=0.788)没有统计学意义.结论 上颌第二乳磨牙根管数目存在较多变异,MB2发现率较高.     

上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管的显微根管再治疗

目的：探讨运用根管显微镜对经治的上颌第一磨牙遗漏近颊第二根管（MB2）的诊治方法。方法：选择需行根管再治疗的上颌第一磨牙64个。依据x线片特征,牙冠与髓底的形态特点判断是否存在MB2。采用斜方形开髓入口,小号K锉探查,必要时使用根管手术显微镜定位MB2根管。镍钛机用根管锉冠向下法预备根管,1％NaOCL冲洗根管系统,冷牙胶侧方加压与热牙胶垂直加压充填根管。记录近颊根根管分型、根管预备过程中并发症的情况,评价疗效。结果：再治疗中共发现MB2根管55个（85．81％）,疏通45个（80％）。近颊根双根管以2—1型、2—2型较常见（76．56％）。治疗过程中未发生器械折断、管壁侧穿等并发症,治疗成功率为95．55％。结论：上颌第一磨牙MB2发生率高,通常狭窄、弯曲、隐蔽,是临床治疗的难点;临床医生有意识地寻找和在显微镜下的可视化操作能提高MB2根管的发现率和治疗的成功率。     

上颌第二磨牙根管数目的临床研究

目的观察临床治疗中上颌第二磨牙根管数目。方法临床需要根管治疗的上颌第二磨牙166颗,拍X线片,术中配合使用根管显微镜、超声根管锉、小号K锉及17％EDTA溶液,探查并扩通根管,确定根管数目。用镍钛锉进行根管预备,侧方加压技术充填根管。结果166颗上颌第二磨牙中：单根管牙为2颗（1．2％）;双根管牙（颊根根管、腭根根管）5颗（3．0％）;3根管牙（近中颊根根管、远中颊根根管、腭根根管）为117颗（70．5％）;四根管牙为42颗（25．3％）,其中近中颊根第2根管（MB2）发生率23．5％。结论上颌第二磨牙根管变异较大,临床治疗中应多加注意。     

改良开髓洞形应用于寻找上颌第一磨牙近中颊根第二根管的研究

目的探讨改良开髓洞形对寻找上颌第一磨牙近中颊根第二根管（second mesiobueeal canal,MB2）的影响。方法选择95颗离体上颌第一磨牙,先用牙钻在舱面预备出传统的三角形开髓洞形,揭髓室顶,寻找MB2根管;然后将未找到MB2根管的离体牙的开髓洞形扩展为梯形洞形,重新寻找MB2根管。结果开髓洞形为传统三角形洞形时上颌第一磨牙MB2根管的发现率为41.05％（39／95）,开髓洞形扩展为梯形洞形又有15颗找到MB2根管,MB2根管的发现率提高到56.84％（54／95）,应用梯形开髓洞形的上颌第一磨牙MB2根管发现率大于应用三角形开髓洞形,差异有统计学意义（X^2=4.74,P〈0.05）。结论应用梯形开髓洞形可以提高上颌第一磨牙MB2的发现率。     

不同方法研究第一、第二磨牙的根管解剖形态

目的研究第一、第二磨牙根管解剖特点,为提高根管治疗的效果提供解剖学根据。方法采用肉眼、放大镜、牙科显微镜和透明牙标本观察四种方法,研究第一、第二磨牙的根管解剖特点。结果①经χ2检验,肉眼与放大倍数下对上颌第一磨牙近中颊侧第二根管（MB2）的检出率在统计学上有显著性差异（P〈0.05）。②152颗离体牙中,上颌第一磨牙64.91%存在MB2,下颌第二磨牙21.21%为＂C＂形根管。70.83%～77.55%的根尖孔为侧向开口。结论熟知第一、第二磨牙根管解剖特点对根管治疗的临床操作有指导意义。     

上颌磨牙近中颊根第二根管口的解剖定位

目的　寻找上颌磨牙近中颊根第二根管 (MB2 )根管口的定位规律。方法　收集离体上颌第一、二磨牙共 5 5 0颗。根管显微镜 (DOM)下探查根管口 ,拍摄髓底图片 ,测量髓底一系列参数 ,分析MB2根管口定位规律。结果　DOM下MB2发现率在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为 78.2 4 %和 4 1.32 %。MB2根管口位于MB P根管口连线的近中 ,与该连线的垂直距离在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为 0 .6 6mm和 0 .6 3mm ;距近颊根主根管 (MB)根管口距离分别为 1.32mm和 1.2 1mm。结论　建议临床医生在探查上颌磨牙髓底时 ,可在MB P根管口假想连线的近中、距其 0 .5～ 1.0mm ,距MB根管口 1.0～ 2 .0mm ,使MB MB2根管口间假想的、微凸向近中的弧形连线与近中边缘嵴平行处寻找MB2根管口。     

上颌磨牙近颊第二根管的定位与治疗

目的:探讨上颌磨牙近颊第二根管(second mesiobuccal canal,MB2)的临床发现率、特征及治疗方法.方法:选取患牙髓炎或根尖周炎的上颌第一磨牙106颗、上颌第二磨牙80颗,拍摄术前X线片,探查根管,记录根管数目、形态和类型;采用机动镍钛器械Hero 642进行根管预备,侧向加压充填技术充填根管.结果:上颌第一磨牙、上颌第二磨牙MB2的发现率分别为82.1%和45.0%,多数MB2根管细小,用8或10号锉结合EDTA溶液可通畅根管.根管预备中有1枚器械折断,无其它并发症发生.结论:上颌第一磨牙MB2的发现率高于上颌第二磨牙,多数MB2根管口隐蔽,根管细小;机动镍钛器械预备可获得良好的成形效果.     

上颌第一磨牙MB2根管遗漏与根管治疗失败之间关系的研究

目的：应用根管显微镜,研究上颌第一磨牙根管治疗过程中近中颊根第二根管（MB2）遗漏导致治疗失败病例的比例。方法：在UNIVERSA/FS2012根管显微镜下探查寻找并预备MB2根管,计算检出率的比例。结果：首次根管治疗失败的上颌第一磨牙中,再次治疗时根管显微镜下MB2根管的检出率为81.0%,首次治疗MB2根管的遗漏率为47.1%。结论：传统方法易造成MB2根管遗漏,应用根管显微镜可提高MB2根管的发现率。     

X线投照角度对判断后牙颊舌向多根管的作用

目的探讨X线投照角度在判断多根管磨牙根管充填效果时的作用。方法选取存在近颊第二根管的上颌第一磨牙87颗、下颌第一磨牙105颗，拍摄术前X线片，完成根管治疗，术后分别拍摄X线正位投照片和远中偏位投照片，判断根充效果。结果X线正位投照片和远中偏位投照片能显示上颌第一磨牙MB与MB2的比例分别为23．0％和81．6％，显示下颌第一磨牙近中两根管的比例分别为38．1％和90．5％，X线远中偏位投照片显示颊、舌向根管的比例大于正位投照片（P〈0．005）。结论采用X线远中偏位投照法能更好地显示上、下颌第一磨牙颊舌向根管的充填效果。     

上颌第一恒磨牙遗漏根管再治疗的临床分析

目的 探讨上颌第一恒磨牙根管治疗中遗漏根管的原因及对策。方法 上颌第一恒磨牙再治疗中通过插入小号K锉进行X线片偏移投照技术（近中或远中）及手术显微镜下仔细探查髓室底所确认的遗漏根管病例9例，记录再治疗中发现遗漏根管的部位，数量及疏通的根管数目并进行分析。结果 再治疗中发现上颌第一恒磨牙遗漏一个根管病例8例，遗漏两个根管病例1例；遗漏部位为近颇根管1例，近颇舌侧根管（MB2）根管5例，远颇根管2例，腭侧根管1例；再治疗中可重新疏通的遗漏根管7例。结论 上颌第一恒磨牙根管治疗中MB2根管遗漏率较高，遗漏根管的原因主要是根管口钙化及根管结构变异，完全去除髓室项并仔细探查髓宣底及显微超声技术的应用有助于寻找、发现并疏通遗漏根管，术前X线片有助于诊断上颌第一恒磨牙遗漏根管的发生及部位。     

根管显微镜在定位上颌磨牙近颊根第二根管中的作用

目的:评价改进开髓口和应用根管显微镜(DOM)定位离体上颌第一、二磨牙近颊根第二根管(MB2)的能力.方法:收集离体上颌第一、二磨牙共550颗.在肉眼、传统三角形开髓口(N.E-1),肉眼、改进开髓口(N.E-2)和根管显微镜辅助(DOM)三种不同条件下分别探查根管,记录MB2数目.结果:N.E-1、N.E-2和DOM三种不同条件下,MB2发现率在上颌第一磨牙分别为34.26%、51.85%和78.24%;第二磨牙分别为16.17%、23.65%和41.32%.改进开髓口和使用DOM可显著提高MB2发现率,与传统开髓口间的差别有统计学意义,P＜0.05.结论:建议将上颌磨牙开髓口由传统的三角形改为斜四边形,并使用合适的放大技术和增强照明,以提高MB2发现率和治疗率.     

上颌磨牙近中颊根的寻找和扩通

目的：寻找并尽量扩通上颌磨牙近中颊根第二根管，统计其发生率及通畅率。方法：离体上颌磨牙11颗，开髓、拔髓，寻找并尽量扩通近中颊根第二根管即MB2，根管预备、充填，拍片。统计其发生及发现率。临床上对146颗上颌磨牙开髓、拔髓，寻找并尽量扩通近中颊根第二根管即MB2，根管预备，充填，拍片。结果：离体牙10颗，上颌第一磨牙近中颊根第二根管发现率为60％，通畅率为50％。94颗上颌第一磨牙，近中颊根第二根管发现率为44.68％.通畅率为29.78％，52颗上颌第二磨牙，发现率为11.53％，通畅率为7.69％。结论：上颌第一磨牙近中颊根第二根管的发生率较高，其寻找、定位及扩通尽管有一定的困难，临床医生仍应注意寻找，以提高上颌磨牙根管治疗的成功率。