新生儿缺氧缺血性脑病139例CT诊断

<正>新生儿缺氧缺血性脑病(HIE),系指围产期窒息所致脑部缺氧缺血性脑损伤,常引起新生儿死亡和其后的神经系统的发育障碍.本文总结139例HIE,就其CT表现分析如下.     

新生儿缺氧缺血性脑病分析

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是新生儿窒息后的严重并发症，是由于各种围生期因素引起的缺氧和脑血流减少或暂停而导致胎儿和新生儿脑损伤，以脑组织水肿，软化坏死和出血为主要病变。多见于足月儿。自1989年确定了新生儿缺氧缺血性脑病的诊断依据与分度后，头颅CT平扫已作为HIE诊断和估计预后的重要手段之一。现将本院儿科自2001～2004年收治的HIE62例，患儿临床表现与颅脑CT改变及防治、预后分析如下。     

螺旋CT在新生儿缺氧缺血性脑病中的应用价值

缺氧缺血性脑病（HIE）是新生儿常见疾病之一,也是引起神经系统后遗症的重要因素。国内外学者仅注重HIE的CT表现,而对正常新生儿颅脑CT的表现及特征研究较少,从而造成临床上治疗错误,将新生儿HIE应用螺旋CT诊断,现报告如下。     

新生儿缺氧缺血性脑病的临床与CT表现分析

新生儿缺血缺氧性脑病(HIE)是围产期缺氧引起的脑部损害,主要原因是窒息.本文系统的讨论了HIE的病因、临床表现、检查方法、CT表现及鉴别诊断.     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是由于各种围产期窒息引起的脑组织缺氧，脑血流减少或暂停而导致胎儿损伤，是引起新生儿急性死亡和慢性神经系统损伤的主要原因之一。本病只根据临床表现很难确诊，而CT却能提供准确诊断，对临床正确处理窒息儿及推测其预后有一定意义。有关HIE的临床和CT诊断论述较多，本文通过对其CT征象进行分析，以加深对该病的认识。     

MRI和CT影像学技术在新生儿缺氧缺血性脑病中的应用

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)不仅可引起围产期新生儿死亡,而且是造成患儿以后智力低下、发育落后、癫痫、脑瘫等病残的主要原因。目前CT、MRI已广泛用于HIE的诊断及预后评价[1],本文就二者对HIE在不同阶段和不同程度临床表现的应用价值分析如下。1CT在新生儿HIE的应用1.1HIE的CT     

纳洛酮联合神经节苷脂治疗新生儿缺氧缺血性脑病疗效观察

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指各种围生期窒息引起的部分或完全性缺氧、缺血而导致的胎儿或新生儿脑损伤.HIE的病死率与后遗症发生率,特别是中枢神经系统后遗症发生率较高,是引起新生儿急性死亡和慢性神经系统损伤的主要原因之一.2007年1月～2009年1月,我科采用纳洛酮联合神经节苷脂治疗HIE,取得了较好疗效,报告如下.     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断体会

新生儿缺氧缺血性脑病 (hypoxic ischemic en-cephalopathy,HIE) ,系指围产期窒息所致新生儿脑部缺氧缺血性损伤 ,是引起脑瘫、智力低下及癫痫疾病的重要因素 ,是新生儿常见病以及死亡原因之一。新生儿缺氧缺血性脑病 (HIE)的早期诊断对临床治疗和预后评估有重要的指导意义。HIE的表现征象诊断 ,是目前专家认可的检查方法和较可靠的手段。现将 38例经行头颅 CT检查诊断为新生儿缺氧缺血性脑病 (HIE)的诊断体会进行分析报道如下。1　资料与方法　　选择 1 998年 8月～ 2 0 0 1年 2月因窒息、惊厥等住院的新生儿 ,经行头颅 CT检查诊断…     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指围产期缺氧引起的脑部损害.主要病因为窒息,临床上出现一系列脑部表现,轻者预后良好,重者可致残甚至死亡.CT扫描可显示病变范围、密度及并发症,是诊断HIE最有效的方法.     

新生儿缺氧缺血性脑病63例颅脑CT诊断分析

<正>新生儿缺氧缺血性脑病(hypoxic ischemic encephalopa-thy,HIE)是指各种围生期窒息引起的部分或完全缺氧,脑血流减少或暂停而导致胎儿或新生儿脑损伤[1]。多发生在窒息的足月儿,但也可发生在早产儿。HIE发病率和病死率高,病情严重者常留有严重的后遗症,临床上对HIE早期病例及时进行颅脑CT检查,以帮助确诊。     

新生儿缺氧缺血性脑病的CT诊断

目的 探讨新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)的CT及临床表现特点.方法 回顾性分析130例新生儿缺氧缺血性脑病的临床资料和CT表现.结果 CT对HIE敏感性高,是首选的影像学检查,其诊断对治疗和预后评估有很高的应用价值.结论 HIE的诊断CT检查是非常必要的诊断证据,同时对判断病情的轻重及预后评估有重要价值.     

106例新生儿缺氧缺血性脑病的治疗体会

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）指各种围生期窒息引起的部分或完全缺氧,脑血流减少或暂停而导致胎儿或新生儿脑损伤.早产儿发生率明显高于足月儿,但由于足月儿在活产新生儿中占绝大多数,故以足月儿多见.HIE是引起新生儿急性死亡和慢性神经系统损伤的主要原因之一.2005年WHO资料显示,全球每年仍有400万新生儿死亡,其中与窒息相关者占23%,中重度HIE的死亡和严重伤残率达53%～60%.     

新生儿缺氧缺血性脑病30例CT诊断

目的 探讨新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）的CT诊断价值。方法回顾分析8年间30例新生儿缺氧缺血性脑病的CT资料。结果 HIE CT表现为脑叶内的局限或普遍低密度区,同时可合并不同程度的颅内出血。结论 CT扫描检查对新生儿生长,发育及中枢神经系统疾病等为临床诊断、治疗、预后评估提供重要参考价值。     

新生儿缺氧缺血性脑病51例的护理

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE),多发生在足月窒息儿,是由于各种围生期因素引起的缺氧和脑血流减少或暂停而导致胎儿和新生儿的脑损伤.HIE是新生儿窒息后的严重并发症,病情重、病死率高,并可产生永久性功能性神经功能缺陷,如智能障碍、癫癎、脑性瘫痪等[1].HIE发病机制主要与脑血流改变、脑组织生化代谢改变及神经病理学改变有关,护理是综合治疗的HIE关键环节.因此.采用科学、合理的方法,加强对HIE息儿的护理显得尤为重要.     

脐带绕颈新生儿缺氧缺血性脑病32例分析

为探讨预防新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）的发生,降低窒息、HIE的发病率和危害性,分析了脐带绕颈新生儿缺氧缺血性脑病32例患儿的病史、出生史（尤其是采用新生儿窒息的阿氏评分法对出生后每一个新生儿进行评分）、临床表现及头颅普通CT检查.结果,脐带绕颈可导致HIE,复合病因存在时可加重HIE,故应做好围产期的保健预防工作.     

CT扫描在新生儿缺氧缺血性脑病中的应用价值

新生儿缺氧缺血性脑病（hypoxic ischemic encephalopathy,HIE）是围产期缺氧引起的脑部损害。主要病因为窒息,据统计约20％留下各种神经系统后遗症。在影像学检查中,CT以其快捷、准确、图像分辨率高为特点,它在新生儿的缺氧缺血性脑病诊断有着重要临床意义。现收集我院2008年1月-9月资料完整临床确诊为新生儿HIE的患儿30例总结如下。     

新生儿缺氧缺血性脑病的护理体会

新生儿缺氧缺血性脑病（HIE）是由于各种围生期窒息引起的部分或完全缺氧，脑血流减小或暂停而导致胎儿或新生儿脑损伤，是引起新生儿急性死亡和慢性神经系统损伤的主要原因之一，为提高HIE存活率和治愈率，减少并发症和后遗症，加强临床基础护理有十分重要的意义。现对我科收治的52例HIE患儿的护理体会报告如下。     

高压氧治疗新生儿缺氧缺血性脑病15例

新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是由于各种围产期因素引起的缺氧及脑血流减少或暂停而导致胎儿和新生儿的脑损伤,是导致儿童神经系统伤残的常见原因,我院自2004年始对HIE进行高压氧治疗,取得疗效良好,现总结如下.     

新生儿缺氧缺血性脑病的临床分度与CT分度的关系分析

目的: 探讨新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)临床分度与头颅CT分度之间的关系。方法: 对87例新生儿HIE的临床分度与头颅CT分度之间的关系进行分析。结果: 临床与CT分度符合率轻度18.9%,中度86.4%,重度66.7%。新生儿HIE的临床分度与CT分度的一致性较差(P<0.005)。结论: HIE是多因素致病,以窒息为首要病因,宫内窘迫所致的HIE引起的脑损伤较出生时窒息重。     

新生儿缺血缺氧性脑病MRI应用进展

新生儿缺氧缺血性脑病(hypoxic－ischemic encephalopathy,HIE),是指围产期、新生儿期由于宫内窘迫、新生儿窒息引起的脑损伤,是导致新生儿死亡或日后致残的严重疾病和引起儿童永久性神经功能障碍的重要原因.近年来,磁共振成像技术的飞速发展,尤其是扩散加权成像、磁敏感加权成像等新技术可以更加深入地揭示新生儿HIE的影像学病理基础,越来越多地应用于新生儿HIE的诊断研究,本文对新生儿缺氧缺血性脑病的MRI(magnetic resonace imaging)应用进展综述如下.