锥形束CT结合牙科显微镜在上颌第二恒磨牙近颊第二根管治疗中的应用

目的：探讨锥形束CT（CBCT）检查,结合牙科显微镜（DOM）在上颌第二恒磨牙根管治疗中,近颊第二根管（MB2）的发现率及临床治疗效果。方法：选取需行根管治疗上颌第二恒磨牙56颗,对术前X线片怀疑有MB2,但未探查到患牙行CBCT检查,在DOM下寻找MB2并疏通根管。确定根管长度后,Mtwo机用镍钛系统预备根管,连续波热牙胶垂直加压技术完成根管充填。根据术前、术中、术后X线片评价根管疗效。结果：上颌第二恒磨牙56颗患牙中,35颗近颊根为1个根管,21颗近颊根为2个根管。肉眼下MB2发现6颗（10.71%）。15颗通过CBCT结合DOM操作可疏通至根尖区,MB2发现上升为21颗（37.5%）。两者比较差异有统计学意义（P〈0.05）。半年后复查疗效均无不适症状,X线片显示根尖区正常或根尖区病变消失。结论：CBCT检查结合显微根管技术能显著提高MB2根管的临床诊治率,提高上颌第二恒磨牙治疗成功率。     

208颗上颌第一磨牙根管治疗失败的临床分析

目的探讨引起上颌第一磨牙根管治疗失败的常见原因,进一步提高该牙的治疗成功率。方法对164例患者、根管治疗失败后的208颗上颌第一磨牙进行分析和再治疗。结果近颊根根尖最易发生病变。常见的失败原因有：充填缺陷90例（43.3%）,遗漏根管47例（22.6%）,充填物脱落33例（15.7%）,牙周牙髓联合损害25例（12%）,牙折13例（6.3%）。结论上颌第一磨牙根管治疗的成败与髓腔解剖、充填缺陷有关,与遗漏根管、特别是遗漏近中颊根第二根管（MB-2）有关,还与充填物脱落、牙周损害与牙折有关。     

离体上颌第二磨牙根管形态的研究

目的：研究上颌第二磨牙根管形态特点,为临床治疗提供理论和实验依据,提高上颌第二磨牙根管治疗成功率。方法：利用透明牙技术,对213颗上颌第二磨牙离体牙根管系统进行观察,研究上颌第二磨牙各根的根管解剖形态特点。结果：经透明牙观察发现上颌第二磨牙的根管系统以1-1型根管系统为主,以腭侧根和远中颊根最为常见,近中颊根最为复杂,2-1型根管发生率为27.4%。2-2型根管发生率为6.8%。根管侧枝发生率在近中颊根为5.6%,远中颊根为＂0＂,腭侧根为5.6%。根尖分歧在近中颊根出现率为2.8%,在远中颊根为＂0＂,在腭侧根为4.2%。结论：上颌第二磨牙的髓腔形态复杂,特别是近中颊根根管变异较大,临床治疗中应多加注意。     

上颌第一磨牙近中颊侧第二根管的锥形束CT影像学研究

目的利用锥形束CT（CBCT）研究活体上颌第一磨牙近中颊侧第二根管（MB2）的发生率和根管影像,为临床根管治疗提供一定的影像学依据。方法按年龄段分组,各随机选择70张,共420张锥形束CT扫描图像,截取上颌第一磨牙根管口横断面影像,针对上颌第一磨牙近中颊侧根管数目、近中颊侧第二根管根管口的位置进行分析研究。结果锥形束CT能在根管口横断面上清晰显示上颌第一磨牙近中颊侧第二根管的存在和分布。结论锥形束CT可以真实反映上颌第一磨牙近中颊侧第二根管的解剖形态,图像清晰,给临床工作提供了重要的、有利的参考。     

离体上颌第一恒磨牙根管实验治疗体会

目的:研究上颌第一磨牙近中颊侧第二根管口(MB2)形态和解剖位置关系,为根管治疗时寻找根管口提供解剖学依据;评估上颌第一恒磨牙根管治疗的临床技术特点;研究上颌第一磨牙近中颊侧第二根管发生率;测量各离体牙牙根距根尖5 mm处的牙根最小外径的平均值。方法:选取83颗离体经固定液固定好的无龋坏的上颌第一恒磨牙为实验对象,术中采用小号K锉配合15%EDTA溶液探查根管,记录根管数目、形态和类型;采用常规逐步后退法进行根管预备,侧向加压充填技术充填根管,标准牙胶尖侧向加压充填。结果:83颗离体牙中,存在MB2的为35颗(42.17%)。结论:上颌第一恒磨牙颊侧第二根管的发生率高,多数根管细小弯曲,小号K锉配合EDTA疏通根管,机动镍钛器械预备可获得良好的治疗效果。为临床上颌第一恒磨牙根管治疗四根管的发生率提供理论指导;测量各离体牙牙根距根尖5 mm处的牙根最小外径,进行根管治疗时,为临床在该处的根管预备的最终粗度提供解剖依据,为各牙位的根管最终预备椎度提供临床指导及实验室依据。     

磨牙区多生牙89例分析及影像检查技术的选择

目的 观察磨牙区多生牙的影像学资料,分析其影像学特点。方法 收集89例108颗磨牙区多生牙的影像学资料[全景片,锥形束CT(CBCT)],观察其分布特点、位置、形态、大小、伴发病变等。结果89例磨牙区多生牙患者男女发生比例3∶5.9;右侧上颌占40例（67%）,左侧上颌占20例（33%）;形态不规则107颗;阻生者75颗;上颌84颗,其中颊侧43颗（51%）;下颌24颗,其中舌侧及磨牙根下方各9颗（38%）;伴发囊性病变、邻牙龋坏、根尖吸收、炎症及邻牙阻生等。结论 磨牙区多生牙好发于女性;单颗发生率高;以上颌右侧颌面及上颌颊侧多见;下颌舌侧及磨牙根下方多见;埋伏阻生者多见;伴发其他病变;CBCT检查能清晰、精准地定位磨牙区多生牙的位置、与特殊牙进行甄别,为临床治疗此类患者提供准确的辅助信息,值得推广。     

上颌磨牙牙根及根管解剖形态的锥形束CT研究

目的:通过锥形束CT(cone-beam computed tomography,CBCT)图像分析上颌恒磨牙牙根和根管的解剖形态.方法:对2012年5～9月因牙体牙周疾病行CBCT检查的患者资料进行回顾性分析.健康、未经过治疗、发育良好的630颗上颌第一磨牙、519颗上颌第二磨牙被纳入本研究,分析每颗磨牙的牙根数目、根管数目及根管形态,采用Venucci分类法对根管构型进行分类描述.将Vertucci Ⅰ型计为常规形态,其他类型计为变异形态,计算变异率.结果:上颌第一磨牙中,2.38％有2个独立牙根,97.14％有3个牙根,0.48％有4个牙根.上颌第二磨牙中,10.41％为单根牙,15.22％有2个牙根,73.60％有3个牙根,0.77％有4个牙根.存在3个牙根的612颗上颌第一磨牙中,近中颊根变异率为30.88％;存在3个牙根的382颗上颌第二磨牙中,近中颊根变异率为13.87％.结论:CBCT精确地显示了关于牙根及根管数目与形态的三维图像,这为疑难根管治疗提供了直观而准确的信息.     

上颌磨牙近中颊根的根尖孔位置及其临床意义

[目的] 研究国人离体上颌第一、二磨牙近中颊根的根尖孔位置,并讨论其临床意义,为临床治疗该根管提供解剖依据.[方法] 收集离体上颌第一、二磨牙共 275颗 ,制成透明标本,牙科显微镜( dental operating microscope,DOM)下观察近中颊根的根管数目、类型、根尖孔位置及根尖孔至解剖根尖的距离.[结果] ①上颌第一磨牙和第二磨牙近中颊根的双根管率分别为 81.48%和 49.70%.②上颌磨牙近中颊根的 3种主要类型根管( 1- 1型, 2- 1型, 2- 2型)中,近中颊根第二根管( MB2)的根尖孔在第一磨牙和第二磨牙分别仅 7.32%和 25.81%位于根尖顶.③ 2- 2型根管中,第一磨牙和第二磨牙 MB2的根尖孔至解剖根尖的平均距离分别为 2.03 mm和 1.82 mm,而 MB的根尖孔距离解剖根尖的平均距离分别为 0.53 mm和 0.51 mm,差异有统计学意义, P< 0.01;④ 2- 1型根管中,两根管融合处至解剖根尖的平均距离在上颌第一磨牙和第二磨牙分别为 4.80 mm和 4.83 mm,差别无统计学意义.[结论] 临床确定上颌磨牙近中颊根第二根管工作长度时 ,不能以常规的根尖孔至解剖根尖的距离 0.5～ 1 mm作为测量标准,建议参考本实验数据,并结合术者手感、患者的痛感、不同角度拍摄的 X线片和电子根尖定位仪来确定 MB2的工作长度.     

牙科手术显微镜用于检出离体上颌第一磨牙近中颊根第二根管的实验研究

目的 评价牙科手术显微镜用于检出上颌第一磨牙近中颊根第二根管的诊断价值.方法 以58颗离体上颌第一恒磨牙作为研究对象,分别应用牙科手术显微镜(DOM)和牙CT对其近中颊根第二根管进行检出,并以牙CT的检出结果为金标准,对牙科手术显微镜的检出结果进行评价.结果 牙科手术显微镜检出上颌第一磨牙近中颊根第二根管的灵敏度为85.7%,特异度为87.5%,kappa值为0.68.结论 牙科手术显微镜对MB2的检出率准确度较高,其在临床的应用有助于寻找和发现上颌第一磨牙近中颊根第二根管,从而有效提高上颌第一磨牙根管治疗的成功率.     

上颌第一磨牙5根管变异1例

人类恒牙根管形态复杂,变异较大。上颌第一磨牙通常有3到4个根管（即近颊1个或2个,远颊1个,腭根1个）。进行根管治疗时,通常我们比较关注的是近颊根管的复杂性,而忽略了腭根及远颊根根管可能存在的变异,从而遗漏根管,导致根管治疗失败。我们近期发现1例上颌第一磨牙腭根有两个根管及远颊根有2个根管的病例,现报告如下。     

CBCT分析上颌后牙根折对上颌窦底黏膜的影响

应用锥形束CT(CBCT)分析上颌后牙根折对上颌窦黏膜的影响,并对上颌窦黏膜炎症反应进行相关性研究.随机选取经CBCT扫描并诊断为一侧根折另一侧无症状的患者50例为实验组,对窦底黏膜厚度,根尖到上颌窦底的距离进行测量,并对数据进行统计学分析.实验组患者根折侧上颌窦黏膜存在增厚改变的发生率为88％,对照侧为2％,差异有统计学意义(P＜0.05).在实验组中,根折伴根尖周炎组、根折伴牙周炎组、无其他症状根折组的黏膜厚度,差异无统计学意义.根折患者上颌窦底黏膜容易发生增厚样改变.根折后常伴有根尖周炎、牙周炎等症状,但不同临床症状对上颌窦黏膜厚度影响无差异性.根折牙根距上颌窦底越近,可能更容易对上颌窦黏膜产生影响.     

上颌第一磨牙近中颊根第二根管的治疗体会

临床上,经常发现上颌第一磨牙根管治疗后根尖病变仍然存在或出现新的根尖阴影,近中颊根第二根管(MB2)的存在是导致治疗失败的原因之一。本文在此探讨上颌第一磨牙近中颊根第二根管的治疗。1材料与方法1.1临床资料25例来源于我院于2004年9月至2005年3月接受上颌第一磨牙根管治疗     

上颌窦底黏膜增厚与牙槽骨高度及上颌窦解剖结构的关联性

目的 通过观测上颌后牙缺失患者的锥形束CT,研究上颌窦底黏膜增厚与缺牙区部分解剖结构的关系,为上颌窦底黏膜增厚患者的上颌窦提升术与缺失牙种植治疗提供临床参考。方法 收集2013年1月—2022年5月于天津医科大学附属口腔医院牙周科与广州医科大学附属口腔医院牙周科拍摄锥形束CT的患者资料,筛选出上颌单侧单颗后牙缺失的患者103例,通过CBCT三维重建,并以上颌窦底黏膜是否增厚（＞2 mm）作为分组标准,测量牙槽骨高度、宽度、上颌窦外侧壁血管至窦底距离、上颌窦外侧壁厚度,以同一患者自身两侧指标的差值为统计值,分析上颌窦底黏膜增厚是否对缺牙区部分解剖结构存在影响。结果 最终纳入上颌窦底黏膜增厚组56例,非上颌窦底黏膜增厚组47例。对其指标进行统计,其中两组患者的牙槽骨高度差值存在差异,上颌窦底黏膜增厚组大于非上颌窦底黏膜增厚组,差异有统计学意义（P＝0.0246）。两组间的牙槽骨宽度、上颌窦外侧壁厚度、上颌窦外侧壁血管至窦底距离的差值,差异无统计学意义（P＞0.05）。结论 持续存在的上颌窦底黏膜增厚可能与缺牙后牙槽骨高度的变化存在关联     

探讨寻找上颌磨牙颊根及其临床意义

目的通过寻找上颌磨牙近颊根管（MB2），提高临床根管治疗的治愈率。方法选取新鲜拔除的上颌磨牙68颗，沿髓底平面截除牙冠，摄X线片，进行寻找及扩通根管，记录颊侧根管数及分型。结果上颌第一磨牙近颊根MB2的发现率41．7％，第二磨牙20．7％，而根管分型中MB2根管Ⅲ型比率略高。结论临床上准确寻找上颌磨牙近中颊根根管是提高上颌磨牙根管治疗成功率的关键因素。     

机用镍钛器械ProTaper预备细小根管的临床分析

目的评价机用ProTaper预备细小根管的临床效果。方法用机用ProTaper和Glyde乳膏（含乙二胺四乙酸,EDTA）对92例患者的92颗患牙进行根管预备,并采用冷侧压充填,其中细小根管66颗、遗漏根管17颗、有近中颊根第二根管（MB2）的上颌第一磨牙6颗、有MB2的第二磨牙3颗。结果66颗患牙141个细小根管扩通率为95．74％,X线片显示根充物锥度、流畅度好：2个上颌第一磨牙腭根欠充．4个根管根尖1/3发生台阶。17个遗漏根管全部扩通。9个MB2根管5个扩通,4个根管未扩通。全部病例术中无器械折断。结论机用ProTaper和EDTA预备细小根管是有效的、安全的,但仍存在一定的局限性。     

基于CBCT的昆明地区人群上颌磨牙MB2根管特征

目的 回顾性分析来自昆明人群上颌第1和第2磨牙根管系统,尤其是近颊根第2根管的发生率及其根管类型规律.方法 收集云南省第一人民医院358名患者总共1 279颗上颌第1和第2磨牙锥形束CT(cone-beam CT,CBCT)资料,根据性别、牙位和年龄分组,分析MB2发生率、根管类型构成及根管口间距,研究MB2与MB1-...     

上颌第一磨牙种植相关数据研究

目的研究正常成人上颌第一磨牙种植相关数据,为临床牙种植术等口腔外科手术及口腔解剖的教学提供参考依据。方法根据纳入标准筛选32例新鲜成人上颌骨,测量上颌第一磨牙各根根尖到上颌窦底的距离,牙槽嵴顶到上颌窦底的距离,根分叉到上颌窦底的距离,近中颊根颊面、远中颊根颊面、腭根腭面根颈、根中和根尖牙槽骨的厚度。结果上颌第一磨牙牙槽嵴顶到上颌窦底的距离为(12.57±3.19)mm,根分叉到上颌窦底的距离为(9.18±0.79)mm;上颌第一磨牙远中颊根根尖到上颌窦底的距离最远,为(3.11±0.71)mm,腭根次之,近中颊根最近,为(2.27±0.43)mm。各根牙槽骨的厚度从根颈到根中,再到根尖逐渐增厚,其中以腭根表面牙槽骨厚度最厚,近中颊根次之,远中颊根最薄。结论上颌第一磨牙缺失后行即刻种植是可行的,种植钉可向腭侧牙槽骨方向倾斜一定的角度。     

对比研究X线片与CBCT在根管治疗术遗漏根管中诊治中的应用效果

目的：：对比研究X线片与CBCT在根管治疗术遗漏根管中诊治中的应用效果。方法：随机选取2012年8月至2015年8月我院收治的62例上颌磨牙根管再治疗患者,依据随机数字表法分这些患者为两组,即研究组(n＝31)和对照组(n＝31)。给予对照组患者单纯X线片检查,给予研究组患者X线片与CBCT联合检查,然后对两组患者上颌磨牙遗漏根管情况进行统计分析,并对研究组患者上颌磨牙遗漏根管类型进行分析。结果：研究组患者上颌磨牙遗漏根管检出率77.4％(24/31)显著高于对照组71.0％(22/31)(P<0.05),52根上颌磨牙遗漏根管中,最主要的类型为MB2,占总数的46.2％;其次为DB、MB1,分别占总数的26.9％、25.0％;最后为P,占总数的1.9％。结论：X线片与CBCT在根管治疗术遗漏根管中诊治中的应用效果较单纯X线片好。     

锥形束CT 分析上颌窦与上颌牙的解剖关系

目的 利用锥形束计算机断层扫描（CBCT）分析研究正常人群上颌窦与上颌牙列的解剖位置关 系。方法 分析2015 年1 月-2016 年6 月于中南大学湘雅医院口腔医学中心接受CBCT 检查的169 例正常 中国人群上颌窦下壁覆盖上颌牙根尖、上颌窦下壁窦分隔、上颌窦最低点的情况，以及双侧上颌窦水平面形 状及是否对称。结果 57.99% 上颌窦下壁由前向后盖过上颌第2 前磨牙至第3 磨牙的根尖，2.37% 上颌窦下 壁从前向后由上颌尖牙盖过至第3 磨牙的根尖。16.57% 的上颌窦下壁有窦分隔，其中50% 窦分隔位于第2 前 磨牙远中至第2 磨牙远中。56.21% 上颌窦最低点位于上颌第1 磨牙。73.37% 上颌窦水平面形状为三角形，且 85.21% 正常人左右上颌窦形状对称。结论 中国人上颌窦下壁前界多位于第2 前磨牙，变异较多；上颌窦下 壁窦分隔较常见且多位于第1、2 磨牙区；上颌窦的最低点多位于第1 磨牙处，大部分正常人上颌窦水平面以 类三角形为主且左右双侧对称，建议进行上颌手术前应进行CBCT 检查仔细观察分析。     

牙源性上颌窦炎的锥形束计算机体层摄影分析

目的 通过锥形束计算机体层摄影(cone beam computed tomography,CBCT)分析牙源性上颌窦炎的特点.方法 回顾性分析于我院就诊的500例患者的CBCT影像资料,测量双侧上颌窦黏膜厚度,记录黏膜增厚部位相邻牙病变情况及其牙根与上颌窦底的关系.结果 牙源性上颌窦炎在上颌窦炎中占27.5％,在＞59岁的男性患者中发现率最高(P＜0.01),病因中根尖周疾病所占比例最大.有35％的病原牙引起了牙源性上颌窦炎,牙根进入上颌窦的病原牙(A类)和牙根位于窦底的病原牙(B类)引起上颌窦炎的概率比牙根距窦底有一定距离的病原牙(C类)高(P＜0.01),A类和B类之间差异无统计学意义(P＞0.05).结论 CBCT有助于分析上颌窦炎与牙病间的可能因果关系;牙源性上颌窦炎在老年男性患者中发现率相对较高;当存在牙根距上颌窦较近的根尖周疾病患牙时需警惕牙源性上颌窦炎的存在.