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| 高压分离器双锥环密封失效的数值模拟 | |
| 引用本文： | 蔡仁良,郑建荣.高压分离器双锥环密封失效的数值模拟[J].医学教育探索,1998(2):181-185. |
| 作者姓名： | 蔡仁良 郑建荣 |
| 作者单位： | 华东理工大学化工机械研究所 |
| 摘 要： | 针对国内某厂一台双锥环密封的高压分离器在非正常操作中出现的泄漏失效，采用ＰＡＦＥＣ大型有限元程序进行了模拟全操作过程的ＦＥＭ分析。在按实际建立的力学与传热计算模型上，数值模拟了包括预热、正常操作和急冷等工况下典型节点的温度－时间变化，垫片应力－介质内压变化的关系，同时探讨了双锥环内侧与端盖圆柱面之间的间隙与密封性能的关系。计算结果表明，双锥环密封结构的温度改变导致垫片应力的改变是密封失效的重要原因 |
| 关 键 词： | 密封 失效 高压分离器 双锥环 数值模拟 |
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