空腹血糖受损下限诊断切割点的建议 |
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引用本文: | 中华医学会糖尿病学分会.空腹血糖受损下限诊断切割点的建议[J].中华医学杂志,2005,85(28):1947-1950. |
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作者姓名: | 中华医学会糖尿病学分会 |
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作者单位: | 中华医学会糖尿病学分会,中日友好医院内分泌科 |
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摘 要: | 糖尿病是一组由于血糖水平过高而引起组织、器官功能及结构异常的疾病。糖调节受损(impaired glucose regulation,IGR)是任何一种类型糖尿病发病过程中的中间阶段。根据空腹和负荷后血糖值,IGR可分为两种高血糖状态——空腹血糖受损(impaired fasting glucose,IFG)和糖耐量受损(impaired glucose tolerance,IGT)。
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关 键 词: | 空腹血糖受损 诊断 糖尿病 糖调节受损 |
收稿时间: | 2005-03-14 |
修稿时间: | 2005-03-14 |
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