| 志贺菌成簇规律间隔短回文重复序列相关蛋白基因cas1 和cas2 研究 |
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| 引用本文： | 薛泽润,王颖芳,段广才,王鹏飞,王琳琳,郭向娇,郗园林.志贺菌成簇规律间隔短回文重复序列相关蛋白基因cas1 和cas2 研究[J].中华流行病学杂志,2014,35(5):581-584. |
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| 作者姓名： | 薛泽润 王颖芳 段广才 王鹏飞 王琳琳 郭向娇 郗园林 |
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| 作者单位： | 450001 郑州,郑州大学公共卫生学院;450001 郑州,郑州大学公共卫生学院;河南科技大学;450001 郑州,郑州大学公共卫生学院;450001 郑州,郑州大学公共卫生学院;450001 郑州,郑州大学公共卫生学院;450001 郑州,郑州大学公共卫生学院;450001 郑州,郑州大学公共卫生学院 |
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| 基金项目： | 国家科技重大专项（2013ZX10004607） |
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| 摘 要： | 目的 研究成簇规律间隔短回文重复序列（CRISPR）相关蛋白基因cas1和cas2在志贺菌中的分布，并分析cas1和cas2基因突变与细菌耐药的关系。方法 采用PCR扩增196株志贺菌cas1和cas2基因。对3株志贺菌（Z23、2003135、2008113）的cas2、cas1（a）和cas1（b）基因进行测序，分析其突变与耐药之间的关系。结果 196株志贺菌均检出CRISPR相关蛋白基因cas1和cas2。测序结果显示，cas2 的一致性为 96.44%，cas1（a）的一致性为 97.61%，cas1（b）的一致性为96.97%。菌株 2003135 的 cas1（b）基因有 2 个突变位点：3177129 位点（C→G）及 3177126 位点（G→C），Z23、2008113 对应位置没有突变。药敏结果显示菌株 2003135 的耐抗生素种类和耐抗生素数目均大于菌株Z23、2008113。结论 志贺菌中CRISPR基因广泛存在。cas1（b）基因突变菌株与未突变株比较，耐药性增强。cas1（b）基因突变可能是引起耐药程度不同的原因之一。
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| 关 键 词： | 志贺菌 成簇规律间隔短回文重复序列 耐药 |
| 收稿时间： | 2013/10/23 0:00:00 |
Clustered regularly interspaced short palindromic repeat associated protein genes cas1 and cas2 in Shigella |
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| Xue Zerun,Wang Yingfang,Duan Guangcai,Wang Pengfei,Wang Linlin,Guo Xiangjiao and Xi Yuanlin.Clustered regularly interspaced short palindromic repeat associated protein genes cas1 and cas2 in Shigella[J].Chinese Journal of Epidemiology,2014,35(5):581-584. |
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| Authors: | Xue Zerun Wang Yingfang Duan Guangcai Wang Pengfei Wang Linlin Guo Xiangjiao and Xi Yuanlin |
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| Institution: | School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China;School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China;Henan University of Science and Technology;School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China;School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China;School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China;School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China;School of Public Health, Zhengzhou Universtiy, Zhengzhou 450001, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | higella Clustered regularly interspaced short palindromic repeat Resistance |
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