电离辐射对Jurkat细胞γ-H2AX蛋白表达的影响

目的：探讨电离辐射诱导Jurkat细胞γ-H2AX蛋白表达的影响。方法：采用流式细胞术（FCM）分别检测2.0 Gy X线照射后不同时间点（0、0.5、1.0、4.0、8.0、16.0及24.0 h）和0.5、1.0、2.0、4.0及6.0 Gy不同剂量X线照射后Jurkat细胞γ-H2AX表达变化，并于量效实验同时进行Jurkat细胞凋亡率检测。结果：与假照组比较，2.0 Gy X线照射后Jurkat细胞γ-H2AX表达水平于1.0 h内达最大值，1.0 h后开始呈时间依赖性下降，16.0 h仍高于假照水平（P<0.01），24.0 h降至与对照无明显差异；不同剂量X线照射后1.0 h，Jurkat细胞γ-H2AX的表达水平在0.5 Gy以内没有明显变化，0.5 Gy以后呈剂量依赖性升高，4.0 Gy时达最高水平（P<0.01），6.0 Gy时表达略下降；不同剂量X线照射后8.0 h，γ-H2AX表达在0～4.0 Gy范围内随剂量增大而逐渐升高，4.0 Gy时达到最高水平（P<0.01），6.0 Gy时表达有所下降。结论：X射线能诱导Jurkat细胞γ-H2AX表达增高，在一定范围内存在时间和剂量依赖关系。