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| 原子力显微镜在高分子领域的应用 | |
| 引用本文： | 屈小中 金熹高. 原子力显微镜在高分子领域的应用[J]. 医学教育探索, 1999, 0(2): 218-224 |
| 作者姓名： | 屈小中 金熹高 |
| 作者单位： | 中国科学院化学研究所 |
| 基金项目： | 国家科委攀登计划资助项目 |
| 摘 要： | 原子力显微镜在其发现不久即应用于高分子领域，弥补了扫描隧显微镜不能观测非导电样品的缺欠，因而受到重视，应用范围也不断扩展。最近几年，原子力显微镜的应用已由对聚合物表面几何形貌的观测发展到深入研究高分子的米级结构和表面性能等新领域，并由此导出了若干新概念和新方法。本文仅对当前原子力显微镜应用于高分子和高分子材料研究的几个重要方面举例进行介绍。 |
| 关 键 词： | 原子力显微镜 高分子 表面 结构 形态 性能 |
Applications of Atomic Force Microscopy on Polymer Science |
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| Qu XiaozhongShi YiJin Xigao. Applications of Atomic Force Microscopy on Polymer Science[J]. Researches in Medical Education, 1999, 0(2): 218-224 | |
| Authors: | Qu XiaozhongShi YiJin Xigao |
| Abstract: | Atomic Force Microscopy (AFM) has recently become a powerful technique in polymer field owing to its many advantages which make it suitable for application to the surface characterization and the investigation of polymers on nanometer scale without specia |
| Keywords: | atomic force microscopy polymer surface structure and morphology |
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