口腔常用X线检查片的辐射剂量及风险 |
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引用本文: | 韩国嵩,李刚.口腔常用X线检查片的辐射剂量及风险[J].中日友好医院学报,2015(2):105-106,112. |
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作者姓名: | 韩国嵩 李刚 |
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作者单位: | 中日友好医院口腔医学中心;北京大学口腔医学院口腔放射科 |
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摘 要: | 目的:测量口腔常用X线检查片的辐射剂量,评估其在临床使用中的风险。方法:使用热释光辐射剂量探测器芯片和ART-210型头颈部体模测量根尖片、曲面体层片、头影测量片和锥形束CT片的有效剂量,结合天然本底辐射剂量,评价所测片位的辐射剂量水平。结果:各检查片位的有效辐射剂量如下,全口根尖片为72.32μSv,曲面体层片为10~23μSv,头颅正位片为1~5μSv,头颅侧位片为1~3μSv,锥形束CT为249.1μSv。结论:口腔常用X线检查具有相对较低的辐射剂量,锥形束CT的使用要有严格的适应证。
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关 键 词: | 根尖片 曲面体层片 头颅正位片 头颅侧位片 锥形束CT 有效剂量 天然本底辐射剂量 |
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