基因芯片与传统罗氏培养检测结核分支杆菌药敏结果分析 |
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作者姓名: | 张伟 |
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作者单位: | 443000,湖北省宜昌市第三人民医院肺病三科 |
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摘 要: | 目的分析基因芯片检测与传统罗氏培养检测结核分支杆菌药敏的结果。方法用罗氏药敏培养法检测分离培养的结核杆菌菌株84株及痰标本结核杆菌菌株64例的耐药性,采用异烟肼和利福平耐药基因检测法检测以上菌株,统计分析两者检测结果。结果在对临床分离菌株和痰标本的检验中,耐药基因检测法与罗氏培养的敏感性和特异性差异无统计学意义( P >0.05)。耐药基因突变片段以531Mct 为主,其次为516Mat、526Mcg 以及526Mct、526Mag、516Mgt 等。结论结核杆菌耐药基因芯片检测技术检测结果与罗氏培养药敏试验结果无明显差异,且用时较培养短,值得在临床推广。
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关 键 词: | 结核分支杆菌 耐药基因检测 罗氏培养 药敏 |
收稿时间: | 2015-05-22 |
修稿时间: | 2015-08-12 |
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