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缺陷型与非缺陷型精神分裂症的脑电图分析
引用本文:李作珍,余西金. 缺陷型与非缺陷型精神分裂症的脑电图分析[J]. 精神医学杂志, 2002, 15(4): 214-215
作者姓名:李作珍  余西金
作者单位:山东省临沂市荣军医院 276005(李作珍),山东省临沂市荣军医院 276005(余西金)
摘    要:目的 研究缺陷型、非缺陷型精神分裂症患者在脑电图(EEG)方面的差异。方法 采用国产ND-82B型八道EEG机对69例精神分裂症患者进行标准EEG描记,并对结果进行分析。结果 缺陷型精神分裂症的EEG异常率明显高于非缺陷型精神分裂症,二者有显著性差异(P<0.01)。结论 提示缺陷型与非缺陷型患者相比,有更明显的病理性生物学基础。

关 键 词:精神分裂症 脑电图 理性生物学 缺陷型 非缺陷型 诊断标准

EEG analysis of the defective and the indefective schizophrenia patients
Li Zuozhen,Yu Xijin. Linyi Demobilized Soldiers Hospital,Shandong ,China. EEG analysis of the defective and the indefective schizophrenia patients[J]. Journal of Psychiatry, 2002, 15(4): 214-215
Authors:Li Zuozhen  Yu Xijin. Linyi Demobilized Soldiers Hospital  Shandong   China
Affiliation:Li Zuozhen,Yu Xijin. Linyi Demobilized Soldiers Hospital,Shandong 276005,China
Abstract:Objective To explore the differences in EEG of the defective and the indefective schizophrenia patients. Methods Using domestic ND-82B eight channals EEG machine, we processed the standard EEG tracing of 69 patients,and then analyzed the data. Results The abnormal rate of the defective was obviously higher that that of the indefective (P<0. 01). Conclusion Results suggest that the defective patients have more obvious pathologic basis.
Keywords:Schizophrenia The defective The indefective EEG
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