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复合PCR-膜芯片技术对结核分枝杆菌链霉素耐药性的快速检测
引用本文:梁建琴,吴雪琼,曹立雪,李洪敏,张俊仙.复合PCR-膜芯片技术对结核分枝杆菌链霉素耐药性的快速检测[J].中国抗生素杂志,2004,29(5):303-306.
作者姓名:梁建琴  吴雪琼  曹立雪  李洪敏  张俊仙
作者单位:解放军第三零九医院结核病研究中心,北京,100091
摘    要:目的 应用复合聚合酶链反应 (复合 PCR) -膜芯片技术快速检测结核分枝杆菌对链霉素 ( SM)的耐药性。方法 设计与合成用于检测结核分枝杆菌耐 SM基因 rps L和 rrs的寡核苷酸探针制作膜芯片 ,与结核分枝杆菌分离株生物素标记的 rps L和 rrs基因复合 PCR产物进行反向斑点杂交 ,并与 PCR-单链构象多态性 ( PCR- SSCP)和 PCR-直接测序 ( PCR- DS)结果比较。结果  5 2株结核分枝杆菌临床分离株中 ,9株敏感株rps L和 rrs基因的 SSCP图谱、膜芯片杂交结果与标准株完全相同 ;4 3株耐 SM菌株中 ,33株存在 rps L 基因4 3位密码子 AAG→ AGG突变 ,5株有 rrs基因 5 13位 A→C突变 ,1株有 rrs基因 5 13位 A→ T突变 ,突变率为 90 .7%。结论 膜芯片技术检测结核分枝杆菌耐 SM基因型灵敏度高、特异性强、简便、快速 ,可用于临床耐药性检测

关 键 词:结核分枝杆菌  链霉素  rpsL基因  rrs基因  药物耐受性  聚合酶链反应  膜芯片
文章编号:1001-8689(2004)05-0303-04
修稿时间:2003年5月19日

Rapid detection of streptomycin resistance in Mycobacterium tuberculosis by complex polymerase chain reaction-gene membrane chip
Liang Jian qin,Wu Xue qiong,Cao Li xue,Li Hong min and Zhang Jun xian.Rapid detection of streptomycin resistance in Mycobacterium tuberculosis by complex polymerase chain reaction-gene membrane chip[J].Chinese Journal of Antibiotics,2004,29(5):303-306.
Authors:Liang Jian qin  Wu Xue qiong  Cao Li xue  Li Hong min and Zhang Jun xian
Abstract:
Keywords:Mycobacterium tuberculosis  Streptomycin  rpsL  gene  rrs gene  Drug resistance  Polymerase chain reaction  Gene membrane chip
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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