|
|||||
|
|
| 059 用或未用钍造影剂脑血管造影后的死亡率：3143例2年存活者的国际组群分析 | |
| 作者姓名： | 松涛 |
| 作者单位： | |
| 摘 要： | 为研究低剂量率持续α粒子照射的远期后发病和不同死因各时期的死亡率，TravisLB等人取丹麦、瑞典和美国在１９３５年至１９６０年间用或未用钍造影剂作脑血管造影的病人（条件是在脑血管造影时无肿瘤和造影后存活２年以上者）共３１４３例（其中１７３６例为钍造影剂照射病人，１４０７例为对照病人）通过死因资料计算不同死因各时期的标化死亡率，用Poisson回归分析检验钍造影剂组与对照组间的变异。病人随访最长达５０年。研究证实，钍造影组和对照组全死因标化死亡率分别为３．０和１．７，都高于普通人群；钍造影剂在体内的持续照射… |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |