安氏Ⅱ类人群下颌侧方(牙合)干扰的情况分析 |
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作者姓名: | 林焱 张端强 |
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作者单位: | 林焱 (福建医科大学,附属口腔医院正畸科,福州,350002) ; 张端强 (福建医科大学,附属口腔医院正畸科,福州,350002) ; |
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摘 要: | 目的研究安氏II1类人群在下颌左右侧方运动过程中的接触情况,探讨侧方干扰情况的存在与否及其与牙颌颅面形态之间的关系。方法对60名未经过正畸治疗的安氏II1类受试者进行检查,采用T-ScanII咬合分析系统记录并分析其侧方运动中的接触情况,在模型及头颅侧位片上分析牙颌颅面的形态,利用SPSS12.0对数据进行分析。结果双侧侧方干扰和无侧方干扰在A-ptm、U1-SN、上下前段牙弓的长度、磨牙近远中向指数上存在差异。结论上颌骨长度与侧方干扰的发生呈负相关,较小的A-ptm是干扰发生的危险因素;磨牙尖对尖关系较完全远中关系更容易发生侧方干扰。
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关 键 词: | 错,安氏Ⅱ类 下颌骨 颞下颌关节 计算机 牙平衡 颌关系记录 正畸学 |
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