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短串联重复序列基因座等位基因丢失现象的研究
引用本文:陈文静,李越,吴小洁,张胤鸣,刘素娟,陈勇,陈维红,孙宏钰. 短串联重复序列基因座等位基因丢失现象的研究[J]. 中华医学遗传学杂志, 2012, 29(3): 360-363
作者姓名:陈文静  李越  吴小洁  张胤鸣  刘素娟  陈勇  陈维红  孙宏钰
作者单位:1. 中山大学中山医学院法医物证学教研室,广州,510080
2. 广州市刑事科学技术研究所
3. 清远市公安局
基金项目:高校基本科研业务费中山大学青年教师培育项目,清远市科技计划项目
摘    要:
目的 探讨用PowerPlex(R) 16体系短串联重复(short tandem repeat,STR)基因座分型时等位基因丢失的现象及原因.方法 分析10 642宗肯定亲权的亲子鉴定案件(涉及18 314次减数分裂),对PowerPlex(R) 16体系疑似发生等位基因丢失的样本采用IdentifilerTM体系和单基因座引物体系进行验证,分离丢失的等位基因,并进行DNA序列测定和比对.结果 在D18S51、D21S1l、FGA和TPOX等4个基因座上,共确认了8宗等位基因丢失案例.通过测序均在PowerPlex(R)16体系引物结合区检见单碱基变异,包括D18S51发生4例,其中2例重复序列上游第79位碱基G→A转换,l例下游162位(G→T颠换和l例上游74位G→C颠换;D21Sll发生2例,分别为重复序列上游第17位C→A颠换和12位A→G转换;FGA和TPOX各发生1例,分别为重复序列下游142位G→A转换和下游第198位G→A转换.等位基因丢失的总发生率为0.437×10-3.结论 引物结合区的碱基变异可能导致扩增失败,产生等位基因丢失.在怀疑发生等位基因丢失时,应采用不同的引物体系进行验证以获得准确分型.在亲子鉴定结果判别和个体识别数据交换中需对此加以重视.

关 键 词:短串联重复  等位基因丢失  碱基变异  亲子鉴定  个体识别

Analysis of allelic drop-out at short tandem repeat loci
CHEN Wen-jing , LI Yue , WU Xiao-jie , ZHANG Yin-ming , LIU Su-juan , CHEN Yong , CHEN Wei-hong , SUN Hong-yu. Analysis of allelic drop-out at short tandem repeat loci[J]. Chinese journal of medical genetics, 2012, 29(3): 360-363
Authors:CHEN Wen-jing    LI Yue    WU Xiao-jie    ZHANG Yin-ming    LIU Su-juan    CHEN Yong    CHEN Wei-hong    SUN Hong-yu
Affiliation:Department of Forensic Medicine, Sun Yat-sen College of Medical Science, Zhongshan University, Guangzhou, Guangdong 510080, P. R. China.
Abstract:
Keywords:Short tandem repeat  Allelic drop-out  Variation  Paternity testing  Personal identification
本文献已被 万方数据 PubMed 等数据库收录!
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