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| Kr：F准分子激光对釉质表面作用的喇曼光谱分析 | |
| 作者姓名： | 李群 施英 张鹏翔 梁昆惠 |
| 作者单位： | 1. 昆明医学院第一附属医院 2. 理工大学理学院 3. 理工大学材料与冶金工程学院 |
| 摘 要： | 用Ｋｒ:Ｆ准分子激光 (2 48ｎｍ)照射釉质时 ,引起釉质表面光化学反应的同时不产生高热量 ,不造成釉质表面出现裂纹或焦化[1] 。本组就准分子激光对釉质表面的作用进行喇曼光谱分析 ,分析表明 ,激光可破坏釉质中羟基磷灰石中的化学键 ,可能产生脱矿效应。1 材料和方法1.1 标本备制取无龋上颌第三磨牙 ,清洁 ,干燥后 ,将其固定于样品台上。1.2 首先使用γ =5 14.5ｎｍ的显微共焦喇曼光谱仪 (ＭＫ -10 0 0型 ,Ｒｅｎｉｓｈａｗ公司 ,英国 )测试原样品颊面釉质谱线。谱线分为两个波段进行记录 ,2 0 0～ 80 0ｃｍ-1和 80 0～ 180 0ｃｍ-1。测… |
| 关 键 词： | KrF准分子激光 釉质 喇曼光谱 |
| 文章编号： | 1005-2593(2001)04-0264-02 |
| 修稿时间： | 2001-03-12 |
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