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| 经颅电刺激咀嚼肌诱发电位：非创伤性评估皮质脑干束功能 | |
| 作者姓名： | 张俊 樊东升 郑菊阳 康德渲 |
| 作者单位： | 北京大学第三医院神经科,北京市100083 |
| 摘 要： | 目的：对健康个体进行经颅电刺激咀嚼肌诱发电位的研究，建立评估皮质脑干束的检查方法。方法：对56名健康志愿者进行经颅电刺激，在双侧咀嚼肌同时接受，分别记录同侧的根运动诱发电位(root motor evoked potential，R-MEP)和对侧的皮层运动诱发电位(cortical motor evoked potential，C-MEP)的潜伏期、波幅。结果：R-MEP的潜伏期为(3．55&;#177;0．44)ms，波幅为(3．49&;#177;2．73)mV；C-MEP的潜期为(5．83&;#177;1．40)ms．波幅为(563．84&;#177;525．07)μV.C-MEP的潜伏期与年龄无明显相关性(P&;gt;0．1)。结论：C-MEP是一种非创伤性评估皮质脑干束的检测方法. |
| 关 键 词： | 经颅电刺激 咀嚼肌 诱发电位 非创伤性评估 皮质脑干束 潜伏期 检测 |
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