| 三叉神经脱髓鞘病变的免疫荧光检测意义 |
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| 引用本文： | 陈泳莲. 三叉神经脱髓鞘病变的免疫荧光检测意义[J]. 第二军医大学学报, 1999, 20(8): 591-592 |
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| 作者姓名： | 陈泳莲 |
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| 作者单位： | 第二军医大学长征医院病理科,上海,200003;第二军医大学长征医院口腔科 |
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| 摘 要： | ![]()
三叉神经脱髓鞘病变是一个多因素的发病机制，传统的解释是由中枢病为而累及三叉神经所致，而对其致病的免疫学机制认识较少［１］。近年来，许多学者已开始从免疫学机制角度来解释三叉神经脱髓鞘病为的发生［２］。本实验应用免疫荧光标记对三叉神经脱髓鞘病变进行检测，并对病变的免疫学检查结果进行讨论。１ 材料和方法１．１ 临床资料 ３５例病例均经临床及必要的辅助检查诊断为原发或继发性三叉神经痛。其中男性１７例，女性１８例。年龄４５～６５岁，平均５０．４岁；病程２４～６０个月；Ⅰ支发病者９例，Ⅱ支发病者１４例，Ⅲ支…
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| 关 键 词： | 神经,脱髓鞘 免疫 |
Study of Demyelination of tregeminal neuralgia by Immunofluorescence technique |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | |
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