矿物药阳起石XRD Fourier指纹图谱研究

目的：建立矿物药阳起石的X射线衍射（X-Ray Diffraction,XRD） Fourier指纹图谱,为阳起石药材的鉴定提供新方法。方法：采用粉末XRD技术对矿物药阳起石进行分析,测定其XRD Fourier指纹图谱;以指纹图谱为对照,根据不同样品XRD图谱中各特征峰相对强度,以夹角余弦法和相关系数法计算各样品XRD图谱的相似度,并做聚类分析。结果：获得10批正品、3批掺杂阳起石药材和2批伪品的XRD图谱,其中10批正品图谱几何拓扑特征基本一致;利用该10批正品阳起石样品XRD图谱得到由18个共有特征峰组成的阳起石XRD指纹图谱;相似度分析显示,15批样品中,不同正品样品XRD图谱共有峰相似度均较高（>0.98）,掺杂样品相似度略低（0.85-0.97）,伪品样品相似度最低（<0.2）,三者相似度具有明显差异,可加以区分;聚类分析结果与相似度分析结果一致。结论：X射线衍射指纹图谱分析方法专属性强,准确可靠,可实现对矿物药阳起石的鉴别和质量评价。