单、双侧正中神经刺激法作额－顶导联SEP检测脑内病变的研究

本研究提示双侧刺激法作ＳＥＰ异常检出率（８７％），高于单侧法（７６％），双侧法更适合检测脑叶病灶和小病灶。发现基底节区和顶叶是ＳＥＰ早成分最重要的神经结构，丘脑皮质投射有两条不同的传导途径，故额—顶导联有助于鉴别脑内不同部位病灶，其倾向为基底节区病灶基本为额—顶ＳＥＰ异常，中央沟前病灶多为额ＳＥＰ异常，而中央沟后病灶大多为顶区ＳＥＰ异常。ＳＥＰ早成分异常不但与病灶部位有关，也与深感觉受损有关，病灶大小也影响ＳＥＰ的完整性，纯运动障碍和浅感觉异常可以引起ＳＥＰ晚成分的异常。