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计算机X线摄影系统中总威纳频谱测试的探讨
引用本文:谢晋东,王宗成,王昌元,袁聿德,王健,张梦龙.计算机X线摄影系统中总威纳频谱测试的探讨[J].中华放射学杂志,2002,36(5):391-394.
作者姓名:谢晋东  王宗成  王昌元  袁聿德  王健  张梦龙
作者单位:1. 271000,泰安,山东泰山医学院放射系
2. 天津市第一中心医院放射科
摘    要:目的 研究计算机X线摄影 (computedradiography,CR)系统中总威纳频谱 (Wienerspectrum ,WS)随影像处理的变化。方法 利用常规X线机对成像板 (imagingplate,IP)曝光 ,改变空间频率处理的参数频率等级 (frequencyrank ,RN)、频率类型 (frequencytype,RT)、增强强度 (degreeofenhancement,RE)以及谐调处理参数旋转量 (rotationamount,GA)来制作总的WS抽样照片 ,用显微密度计扫描 ,通过快速傅立叶变换来计算总的WS。结果  (1)当空间频率为 1 0LP/mm时 ,副扫描方向上的总WS值为 7 2 6× 10 -5mm2 ,是主扫描方向上总WS值的 1 5 7倍 ,在高空间频率范围内出现峰值。(2 )当空间频率为 1 0LP/mm时 ,主扫描方向上RN =0的总WS值为 7 90× 10 -5mm2 ,是RN =5的WS值的 1 70倍 ,是RN =9的WS值的 3 30倍。 (3)当空间频率为 1 0LP/mm时 ,主扫描方向上RE =1 5的总WS值为 1 0 5× 10 -4 mm2 ,是RE =1 0的WS值的 2 2 7倍 ,是RE =0 5的WS值的 2 92倍。 (4 )当空间频率为 1 0LP/mm时 ,主扫描方向上GA =1 5的总WS值为 1 2 5× 10 -4 mm2 ,是GA =0 8的WS值的 2 70倍。 (5 )当空间频率为 1 0LP/mm时 ,副扫描方向上RT =T的总WS值为 9 80×10 -5mm2 ,是RT =F的WS值的 1 0 2倍 ,是RT =R的WS值的 1 35倍 ,是RT =P的WS值的 1 5

关 键 词:计算机X线摄影系统  总威纳频谱  测试  质量控制
修稿时间:2001年11月28

Investigation of overall Wiener spectrum measurement in a computed radiography system
Abstract:
Keywords:Computed radiography  Image processing  computer-assisted  Quality control  Factor analysis  statistical
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