首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

新生儿低血糖性脑损伤磁共振成像动态变化研究
作者姓名:姚丽a  富建华a  薛辛东a  王晓明b  黄万杰a  郭静a
作者单位:中国医科大学附属盛京医院 a 儿科 b 放射科,沈阳110004
摘    要:
目的探讨弥散加权成像(DWI)、常规磁共振成像(MRI)在新生儿低血糖性脑损伤不同阶段的动态变化。方法回顾分析了2005年9月至2008年9月,中国医科大学附属盛京医院新生儿科收治的经MRI确诊的20例低血糖性脑损伤患儿(病例组)的临床资料,并随机选取同期住院MRI正常的20例单纯性低血糖患儿为对照组。 结果病例组平均最低血糖值低于对照组(P < 0.01),低血糖持续时间长于对照组(P < 0.01)。病例组于低血糖发生后3.8(1~11)d完成首次MRI检查,受累部位主要为枕叶11例、枕顶叶8例,顶叶1例,受累部位在DWI均表现为高信号,常规MRI相应部位12例表现为T1加权成像(T1WI)、T2加权成像(T2WI)正常信号,仅6例表现为T1WI低信号、T2WI高信号;11例于首次检查后11.4(8~15)d完成第2次MRI检查,首次检查受累部位DWI 7例转为正常信号,4例低信号,常规MRI均表现为T1WI低信号、T2WI高信号。3例于6个月随访,提示枕叶DWI正常信号,T1WI低信号、T2WI高信号。结论新生儿低血糖性脑损伤早期DWI表现为异常高信号的部位,与晚期常规MRI表现为T1WI低信号、T2WI高信号的部位一致,这种一致性提示DWI异常高信号对于低血糖性脑损伤早期病情判断具有一定价值。

关 键 词:弥散加权成像  低血糖脑损伤  新生儿  
收稿时间:2010-12-02
修稿时间:2011-02-23
点击此处可从《中国实用儿科杂志》浏览原始摘要信息
点击此处可从《中国实用儿科杂志》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号