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| 片段弓技术矫治AngleⅡ^1类深覆He X线头影测量的研究 | |
| 引用本文： | 刘东旭,王春玲.片段弓技术矫治AngleⅡ^1类深覆He X线头影测量的研究[J].山东医科大学学报,1999,37(2):167-169,180. |
| 作者姓名： | 刘东旭 王春玲 |
| 摘 要： | 为研究采用片段弓技术，评价ＳｎｇｌｅⅡ＾１类深覆Ｈｅ矫治后对上颌牙、骨骼及面部软组织的影响，选择ＡｎｇｌｅⅡ＾１类高角深覆Ｈｅ病例２０例，治疗前１２￣１４岁，对４个上切牙施加５０ｇ压低力，用腭杆及短口外弓加强支抗，每例患者于初诊时（Ｔ１）、初诊后半年戴矫治器时（Ｔ２）、上前牙压低前（Ｔ３）及压低半年后（Ｔ４）摄取侧位片。选择１７项参数，（Ｔ４－Ｔ３）－（Ｔ２－Ｔ１）表示参数半年机械矫治量。结果表明 |
| 关 键 词： | 正畸学 矫正 错He X线头影测量 |
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