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4种参照系对重叠法头影测量结果的影响
引用本文:钟小龙,丁学强,姚惠.4种参照系对重叠法头影测量结果的影响[J].中山大学学报(医学科学版),2004,25(Z1):331-332.
作者姓名:钟小龙  丁学强  姚惠
作者单位:中山大学附属第一医院口腔科,广东,广州,510080
摘    要:【目的】分析不同结构作参照系进行重叠法X线头影测量对测量结果产生的影响。【方法】20例Ⅱ类Ⅰ分类拔牙矫正患者治疗前后的X线头影侧位片,分别以①SN及S点,②Bolton平面和R点,③BaN及Pt点,④BaN及N点为参照系进行重叠分析颌面部结构的位置变化,观察不同参照系对同一患者测量结果的影响。【结果】4种参照系对同一患者测量得出结果各不相同(P<0.05),若以差别≥1mm定为有临床意义,大部分结果差别仍有临床意义。【结论】用重叠法作头影测量分析颌面部变化时,应考虑不同参照系对结果的影响。

关 键 词:头影测量学  重叠法  颅底  颌骨
文章编号:1672-3554(2004)3S-0331-02
修稿时间:2004年3月12日
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