| 定量化Delaire头影测量分析法的研究进展及展望 |
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| 引用本文： | Samia Ghouse,李静,宋锦璘. 定量化Delaire头影测量分析法的研究进展及展望[J]. 中国美容医学, 2009, 18(1): 126-128 |
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| 作者姓名： | Samia Ghouse 李静 宋锦璘 |
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| 作者单位： | 重庆医科大学附属口腔医院正畸科,重庆,400015 |
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| 摘 要： | ![]()
定位头影测量方法是评价颅颌面骨骼结构特征的重要手段，广泛运用于颅面生长发育预测及颅颌面骨骼特征等研究^[1]。传统方法诸如Downs分析法、Steiner分析法、Tweed分析法、Wylie分析法、Wits分析法、Ricketts分析法等对颅颌面骨骼结构的评价主要基于角度、线距、比例等，因受面高、颌骨旋转、参照平面变异等影响以及准确度、适用条件等限制，不能充分满足临床需要，
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| 关 键 词： | 头影测量分析法 Ricketts分析法 Steiner分析法 定量化 Downs分析法 Tweed分析法 头影测量方法 颅面生长发育 |
Research progress and prospects of quantitative Delaire architectural analysis |
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| Samia Ghouse. Research progress and prospects of quantitative Delaire architectural analysis[J]. Chinese Journal of Aesthetic Medicine, 2009, 18(1): 126-128 |
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| Authors: | Samia Ghouse |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | |
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