| 颈支抗治疗Ⅱ类一分类错He的X-线头影测量研究 |
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| 引用本文： | 周洪 叶湘玉 邹敏. 颈支抗治疗Ⅱ类一分类错He的X-线头影测量研究[J]. 中国美容医学, 2003, 12(3): 296-298 |
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| 作者姓名： | 周洪 叶湘玉 邹敏 |
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| 作者单位： | 周洪（西安交通大学口腔医学院正畸科,陕西省,西安市,710004） 叶湘玉（西安交通大学口腔医学院正畸科,陕西省,西安市,710004） 邹敏（西安交通大学口腔医学院正畸科,陕西省,西安市,710004） |
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| 摘 要： | 目的：研究颈支抗限制上颌骨发育治疗Ⅱ类一分类错He争的临床效果。方法：采用治疗前后的X-线头影测量进行对比研究。结果：治疗的主要变化发生在上颌骨和上颌磨牙，上颌骨平均后退1．03mm；SNA平均减小0．6。上颌磨牙平均远中移动2．33mm，、治疗前后的He平面有所减小，下颌平面虽有增加但无显著性意义。治疗前后的面下1／3的高度无明显的增加。结论：一般认为颈支抗存在着明显的副作用，即促使磨牙伸长、增加面下1／3高度和促使下颌骨向下后旋转。本研究结果治疗前后的面下1／3的高度无明显的增加，认为适应证的选择，牵引力线的控制是颈支抗治疗安氏Ⅱ类畸形的关键。同时在治疗中下颌骨的生长有着明显的增加，一方面是其本身正常的生长能力，另一方面也可能是矫治器对其有一定的刺激作用。
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| 关 键 词： | 颈支抗 治疗 Ⅱ类一分类错He X-线头影测量 |
| 文章编号： | 1008-6455(2003)03-0296-02 |
| 修稿时间： | 2002-02-25 |
Cephalometric study of Class |
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