脆性X综合征的基因诊断 |
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作者姓名: | 赵蓓 |
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摘 要: | 脆性X综合征被认为是导致遗传性智力低下的首位病因,其发病率在男性为1/1250,女性为1/2000。该病临床以不同程度的智力低下为主,遗传方式呈非寻常的X连锁显性遗传。细胞遗传学方法可检出位于Xq27.3的脆性位点。1990年克隆出脆性X智力低下基因FMR-1,确定该病分子学突变基因为FMR-1基因外显子中一三核苷酸重复序列(GGG)n的扩增。在正常人n为5 ̄50,携带者n为50 ̄200,患者n大
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关 键 词: | 脆性X综合征 基因诊断 智力低下 |
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