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| 弥漫性轴突损伤的磁共振氢谱的变化 | |
| 引用本文： | 潘隆盛,许百男.弥漫性轴突损伤的磁共振氢谱的变化[J].中国临床神经外科杂志,2005,10(1):70-73. |
| 作者姓名： | 潘隆盛 许百男 |
| 作者单位： | 中国人民解放军总医院神经外科,北京,100853 |
| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目批准号:(39870793) |
| 摘 要： | 弥漫性轴突损伤(Diffuse axonal injury，DAI)普遍存在于各种程度的颅脑损伤中。脑白质中轴突的广泛断裂在重型颅脑损伤病例占50％以上，而在轻度颅脑损伤中仍占30％，检查轴突损伤在了解外伤性脑损害中具有重要的意义。但是如何在活体中检测轴突的病理改变相当困难，虽然明显的病理改变能被传统的影像学(CT或T1、T2加权像MRI)证实， |
| 关 键 词： | 弥漫性轴突损伤 磁共振波谱分析 氢谱 |
| 文章编号： | 1009-153X(2005)01-0070-04 |
| 修稿时间： | 2003年11月12 |
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