低强度微波、噪声和X线联合因素对人脑电图的影响——80例作业工人的调查

低强度微波作业者脑电图的改变文献已有较多报导,但低强度微波合并噪声、X线等联合因素对作业者脑电图的影响,目前尚未见报导。1980年,我们对武汉地区三个厂接触低强度微波、噪声和X线的作业者进行了脑电图检查,同时测定了生产环境中的有害因素,现报告如下。对象和方法一、观察对象 1.接触组接触低强度微波的作业者80名,其中男67名、女13名,年龄20～60     

五种慢性职业中毒神衰综合征及脑电图改变

对288例铅、四乙基铅、苯、汞、锰等5种慢性职业性损害患者及73例正常人的神经衰弱综合征与脑电图资料分析发现：神经综合征是5种慢性职业中毒的最常见的一症状,其发生率与正常对照组比较差异有非常显著性（P＜0．01）;各观察组脑电图改变率亦明显高于对照组（P＜0．01、P＜0．05）, 铅及锰中毒组神衰综合征的发生与脑电图改变有一定的相关关系。     

四乙基铅接触者脑电图改变的观察

136例四乙基铅接触者脑电图的表现:α节律成少,α节律θ化和β化,电压20μV以下低平波增多;诱发试验见α抑制不完全和过度呼吸诱发阵发性θ波。其中19例慢性中毒者脑电图界线异常占63.1%,轻度异常占10.5%,但未见δ波偏移,如脱离接触,及时治疗,仍能恢复正常。