二维半导体探测器阵列在多叶准直器日常质量保证中的应用

目的 建立利用半导体探测器阵列检测多叶准直器(MLC)叶片定位误差的方法,用于MLC的日常质量保证。方法 在MapCheck半导体探测器阵列上,相邻行探测器是错开半个探测器间距分布的。针对这种分布特点,设计了台阶式叶片位置模式,代替胶片测量常用的篱笆式(picket fence)叶片位置模式,作为叶片位置参考模式。在参考模式的基础上,人为引入不同大小的叶片位置误差,得到一组新的叶片位置模式——叶片位置校准模式。依次照射参考模式和校准模式,得到每一个探测器测量剂量与叶片位置误差的关系曲线。该曲线作为测量叶片位置误差的校准曲线。在进行MLC日常质量保证时,只需定期照射叶片位置参考模式,就可得到定量的叶片位置误差。结果 新方法在一个配置40对MLC的加速器上进行了测试(Elekta Precise)。篱笆式叶片位置模式一次检测160个叶片位置,而台阶式叶片位置模式一次检测240个位置, 检测效率提高50%;对于同样的1mm叶片误差,前后两种模式的剂量变化分别是17%和25%,因此测量灵敏度提高8%。结论 建立了一种新的定量的MLC日常QA方法。通过重新设计叶片位置模式,新方法提高了实施效率和测量灵敏度。