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目的 本研究利用数值分析方法研究3M ESPE RelyX ARC粘接剂厚度对IPS Empress II全瓷冠各组成部分应力水平的影响。方法 建立粘接剂厚度分别为60、90、120和150μm的四种全瓷冠数值模型,施加四种不同的载荷加载方式,用数值计算方法分析全瓷冠的各组成部分的应力极值和应力分布进行分析。结果 当粘接剂的厚度从60μm增大到90μm时,全瓷冠饰面瓷和核瓷的张应力极值都有所降低;而当厚度增至120μm时,瓷冠的应力水平有所提高,当厚度继续增大为150μm时,饰面瓷和核瓷的应力极值显著增大。结论 粘接剂内部的正应力在粘接剂厚度为90-120μm时维持在一个较低的水平。当粘接剂厚度达到90μm以上时,剪应力幅值变化不大。当粘接剂厚度维持在90μm附近时,可以降低各瓷层内部的应力水平。粘接剂主要以剪切的方式破坏,粘接剂剪切强度是一个值得注意的问题。  相似文献
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